美國tsi8533可吸入顆粒物分析儀

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產品型號tsi8533

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更新時間：2023-03-16 12:11:30瀏覽次數：83次

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濰坊艾沃環(huán)保設備有限公司

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產品簡介

簡介：?采用顆粒云（所有散射光面積）和單顆粒監(jiān)測相結合的技術完成不同粒徑段質量濃度的測試?對不同粒徑段粒子質量濃度的測量技術優(yōu)于通用的光度計和光學粒子計數器 (OPC)?它同時給出了通用光度計能夠測量的質量濃度和計數器給出的粒徑分布?tsi8533光度計可

詳細介紹

?采用顆粒云（所有散射光面積）和單顆粒監(jiān)測相結合的技術完成不同粒徑段質量濃度的測試

?對不同粒徑段粒子質量濃度的測量技術優(yōu)于通用的光度計和光學粒子計數器 (OPC)
?它同時給出了通用光度計能夠測量的質量濃度和計數器給出的粒徑分布
?tsi8533光度計可以用來測量很高的質量濃度，但是它們不能給出任何粒徑的信息，但是明顯的低估了大顆粒的質量濃度
?光學粒子計數器可以提供粒徑和數量信息，但是，他們不能夠給出任何質量濃度的信息，并且不能用在高濃度的環(huán)

tsi8533可吸入顆粒物分析儀產品應用：

?工業(yè)/ 職業(yè)衛(wèi)生研究
?室內空氣質量研究
?基線趨勢跟蹤和監(jiān)控
?點源監(jiān)測
?工程控制評價
?工程研究
?遠距控制
?排放源監(jiān)測
?氣溶膠基礎研究

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