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日本rika接觸探針
日本rika接觸探針
用于細(xì)間距檢查
它主要用于半導(dǎo)體晶圓檢查，目前支持的間距為110μm。另外，可以支撐多種柱塞材料。
■高頻
它用于半導(dǎo)體檢查，具有與器件加速相對(duì)應(yīng)的出色RF特性，目前已縮短至1.6 mm。另外，可以處理多種柱塞材料。
■用于高溫
為了滿足可靠性測(cè)試中探針的高耐熱溫度要求，我們目前擁有與175°C兼容的HOTPIN系列。此外，我們正在進(jìn)行進(jìn)一步的高溫兼容性開發(fā)，這對(duì)于車載設(shè)備檢查是有效的。
■對(duì)于開爾文
它用于4端子測(cè)量，以實(shí)現(xiàn)可靠的探針接觸，并實(shí)現(xiàn)最小探針直徑φ0.15mm。另外，可以處理多種柱塞材料和形狀，從而實(shí)現(xiàn)窄節(jié)距接觸。
■適用于大電流
特殊的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了低電阻和大電流測(cè)量。
我們正在促進(jìn)每個(gè)螺距的探頭標(biāo)準(zhǔn)化，以實(shí)現(xiàn)更低的價(jià)格和更短的交貨時(shí)間。我們建議將其與IC插座固定裝置組合使用。
- 間距為0.4mm
- 間距為0.5mm
- 間距為0.65mm
- 間距為0.8mm
- 間距1.0mm
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