污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
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更新時(shí)間：2023-02-25 07:44:27瀏覽次數(shù)：183次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線單層恒溫恒濕箱產(chǎn)品特點(diǎn)：◆采用能量調(diào)節(jié)措施，在保證試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)的前提下，根據(jù)不同的降溫速度和溫度范圍對(duì)系統(tǒng)的制冷能力進(jìn)行調(diào)節(jié)
單層恒溫恒濕箱
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆采用能量調(diào)節(jié)措施，在保證試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)的前提下，根據(jù)不同的降溫速度和溫度范圍對(duì)系統(tǒng)的制冷能力進(jìn)行調(diào)節(jié)；增設(shè)其能量調(diào)節(jié)措施，如蒸發(fā)溫度調(diào)節(jié)、能量調(diào)節(jié)、熱氣旁通能量調(diào)節(jié)以確保在滿足主要技術(shù)指標(biāo)的前提下，降低設(shè)備能耗；
◆運(yùn)用*的PID調(diào)節(jié)技術(shù),大大降低了機(jī)臺(tái)的能耗按照嚴(yán)格的水電分離設(shè)計(jì)方式，有效保障了機(jī)臺(tái)運(yùn)行的安全；
◆進(jìn)口的核心零部件和優(yōu)秀的工藝保證了壓縮機(jī)長(zhǎng)期工作的穩(wěn)定性；
◆設(shè)備具有回收循環(huán)水和外排水切換的功能，可以根據(jù)客戶水質(zhì)狀況自由選擇。
| 型號(hào) | RJD-HLT-225S | RJD-HLT-408S | RJD-HLT-1000S |
| 內(nèi)箱尺寸（mm） | W600*D500*H750（可定制） | W800*D600*H850（可定制） | W1000*D1000*H1000（可定制） |
| 外形尺寸（mm） | W1150*D1100*H1750 | W1350*D1200*H1850 | W1550*D1603*H2000 |
| 溫度范圍 | －40～+150℃ －50～+150℃ －70～+150℃ | ||
| 濕度范圍 | 10～98%RH(選配） | ||
| 升溫速率 | 全程平均1～5℃/分鐘（非線性空載） | ||
| 降溫速率 | 全程平均1~5℃/分鐘（非線性空載） | ||
| 溫度波動(dòng)度 | ±0.3℃ | ||
| 溫度均勻度 | ≤2℃（空載、恒定狀態(tài)時(shí)） | ||
| 溫度偏差 | ±1.0℃ | ||
| 濕度偏差 | ±3.0%RH(＞75%RH);±5.0%RH(≤75%RH) | ||
| 觀察視窗 | W300XH400MM（可定制），三層真空鋼化玻璃 | ||
| 內(nèi)箱材質(zhì) | SUS304/SUS316（厚度可定制，外部有加強(qiáng)結(jié)構(gòu)） | ||
| 外箱材質(zhì) | 鍍鋅板粉沫高溫噴塑 | ||
| 測(cè)試接線柱或引線孔 | 可按照要求預(yù)留接線口和引線口 | ||
| 冷卻方式 | 風(fēng)冷 | ||
| 控制方式 | 觸摸屏可程式控制PLC、帶USB接口、帶RS485接口可連接電腦控制， 專(zhuān)用的網(wǎng)絡(luò)控制軟件，方便遠(yuǎn)程監(jiān)控，數(shù)據(jù)采集 | ||
| 通訊協(xié)議 | 可開(kāi)放通訊協(xié)議與其他設(shè)備配套使用 | ||
| 保護(hù)裝置 | 自動(dòng)防爆泄壓裝置，防爆鏈，三色燈報(bào)警裝置，遠(yuǎn)程控制，排煙裝置，滅火裝置，急停，電源防護(hù)等 | ||
| 電源電壓 | AC380V±10% 50HZ±10% | ||
| 參考標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423.1—2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn) GB/T 2423.2—2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn) GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn) GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn) GB 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T 5170.1-2008 基本參數(shù)檢定方法 總則 GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 | ||
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