紫外可見近紅外分光光度計(jì) V-7000Series能自動測量各種固體樣品的偏角。用于半導(dǎo)體,薄膜,膠卷,光學(xué)元件,光設(shè)備的分光特殊性評價(jià)以及膜厚測量。
紫外可見近紅外分光光度計(jì) V-7000Series
▼概要V-7000系列能研究看不見的世界，紫外可見近紅外分光光度計(jì)。
采用雙單色器,把光學(xué)系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)相結(jié)合,實(shí)的性能,主要用于光學(xué)材料以及光學(xué)設(shè)備的分光特性評價(jià)和薄膜膜厚測量。
根據(jù)用途有3種型號可供選擇。 V-7100紫外可見區(qū)域?qū)Ｓ眯吞?V-7200采用近紅外區(qū)域用檢測器PbS光導(dǎo)電元件,測量范圍可至3300nm廣波長型號,V-7300是采用InGaAs光電二極管檢測器實(shí)現(xiàn)近紅外區(qū)域高信噪比。
▼特征雙單色器的型號
根據(jù)測量波長范圍和靈敏度不同，可分為3種型號
實(shí)的測量范圍+/-8.0Abs
采用超低雜散光設(shè)計(jì)
實(shí)現(xiàn)波長分解0.049nm的高分辨率(紫外可見區(qū)域)
采用日本分光的光分析裝置軟件JASCO光譜管理器，電腦控制
▼ND濾光片的數(shù)據(jù)用兩種不同的濾光片各1枚和2枚重疊共進(jìn)行了3種測量。2枚合在一起測量結(jié)果和各一枚測量結(jié)果加起來計(jì)算的值，通過比較發(fā)現(xiàn)，寬波長領(lǐng)域和測光范圍一致?？梢粤私獾綔y光范圍的面積和線形性的高度。
▼Co(NO3)2硝酸鈷水溶液的數(shù)據(jù)顯示了Co(NO
3)
2硝酸鈷水溶液的光譜和在511nm通過吸收求得的檢量線?？梢钥闯鰪?吸光度超過 6的高濃度到低濃度都可以測到良好的直線性。
◆專用配件
▼測量反射率裝置能自動測量各種固體樣品的偏角。用于半導(dǎo)體,薄膜,膠卷,光學(xué)元件,光設(shè)備的分光特殊性評價(jià)以及膜厚測量。
▼小型積分球用于粉末樣品,懸浮液,有凹凸的固體表面的漫反射測量。
◆規(guī)格▼V-7100/7200/7300 | 型號 | 7100 | 7200 | 7300 | | 光學(xué)系 | 立體配置Littrow型接口 雙單色器雙光束方式 | | 光源 | 氘燈 鹵鎢燈 水銀光源（校正用） | | 波長范圍 | 185～900nm | 185～3300nm | 185～1800nm | | 分辨率 | 0.049nm以下（UV/VIS） | 0.049nm以下（UV/VIS）
0.2nm以下（NIR） | 0.049nm以下（UV/VIS）
0.1nm以下（NIR） | | 波長準(zhǔn)確性 | ±0.08nm（190～800nm） | ±0.08nm（190～800nm）
±0.40nm（800～3000nm) | ±0.08nm（190～800nm）
±0.20nm（800～1700nm） | | 測光范圍 | +/－8.0Abs | 光源
（選項(xiàng)） | 高輝度陶瓷光源
鹵素?zé)簟⑺涫礁邎R水銀光源 | | 測光精度 | 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）使用雙光圈 | | 基線穩(wěn)定性 | 0.0002Abs/Hr以下 | | 基線平坦性 | ±0.0012Abs（200～850nm） | ±0.0012Abs（200～3000nm） | ±0.0012Abs（200～1700nm） | | 雜散光 | 0.00007%以下 220nm
（10g/L NaI ASTM）
0.00007%以下370nm
（50g/L NaNO2） | 0.00007%以下220nm
（10g/L NaI ASTM）
0.00007%以下 370nm
（50g/L NaNO2）
0.0003%以下1420nm
H2O 光路長1cm）
0.00048%以下 2365nm
（CHCl3 光路長1cm） | 0.00007%以下220nm
（10g/L NaI ASTM）
0.00007%以下 370nm
（50g/L NaNO2）
0.00005%以下1420nm
（H2O 光路長1cm） | | 檢測器 | 光電子増倍管 | 光電子増倍管
冷卻型PbS光導(dǎo)電素子 | 光電子増倍管
冷卻型InGaAs光電二極管 | | 定量測定 | 1,2,3波長演算、檢量線：一次、二次、三次式、比例、折線
Logistic函數(shù)、樣條函數(shù) | | 測定光譜 | 測光方式：Abs,%T,%R 數(shù)據(jù)處理功能：檢測波峰，波峰高度（比）
波峰面積（比）、半值寬、追跡、放大、微分、 平滑度、Abs/%T/%R變換
K-M變換、K-K變換、四則演算、基線補(bǔ)正、差光譜、 除去不要波峰
去卷積、FFT濾光片、除去數(shù)據(jù)補(bǔ)間、橫軸變換：cm-1,μm,eV,nm | | 測定時(shí)間變化 | 測光方式：Abs,%T,%R、數(shù)據(jù)處理功能：動力學(xué)、追跡、 | | 測定固定波長 | 可最多同時(shí)測量8個(gè)波長 | | 程序 | JASCO光譜管理器 | | 表示 | 日本語 | | 尺寸?重量 | 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg | |
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