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高分辨率熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)Apreo

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  美國FEI掃描電鏡

鎢燈絲掃描式電子顯微鏡(SEM)

熱場發(fā)射掃描式電子顯微鏡(SEM)

聚焦離子束掃描電子顯微鏡

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上海杜美精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

掃描電子顯微鏡Apreo功能豐富的高性能SEMApreo復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生高分辨率和信號(hào)選擇

詳細(xì)介紹

掃描電子顯微鏡

Apreo

功能豐富的高性能 SEM

Apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的研究平臺(tái)，并且不會(huì)降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供很好的材料對(duì)比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?？蛇x低真空模式現(xiàn)在的樣品倉壓力為 500 Pa，可以對(duì)要求嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。

通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級(jí)透鏡、高級(jí)探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對(duì)未來的研究難題。

Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

新的 Apreo 掃描電子顯微鏡 (SEM) 可對(duì)納米顆粒、金屬、復(fù)合材料和涂層等多種材料進(jìn)行檢測，并且整合了創(chuàng)新功能，可提供更好的分辨率、對(duì)比度和易用性。

的復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測量時(shí)）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進(jìn)行電子束減速。
背散射探測 - 始終保證良好的材料對(duì)比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
探測器 - 可將各個(gè)探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。

體驗(yàn) Apreo SEM 帶來的優(yōu)勢

復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測量時(shí)）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進(jìn)行電子束減速。
背散射探測 - 始終保證良好的材料對(duì)比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
探測器 - 可將各個(gè)探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。
多種電荷緩解策略，包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
分析平臺(tái)：提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉支持三個(gè) EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系
樣品處理和導(dǎo)航非常簡單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。