X射線鍍層膜厚儀元素標(biāo)樣Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片

Calmetrics是美國(guó)原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測(cè))Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。美國(guó)Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件，提供對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù)，公司通過(guò)ISO/IEC17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI (American National Standards Institute美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)）標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片分單層標(biāo)準(zhǔn)片、雙層標(biāo)準(zhǔn)片、多層標(biāo)準(zhǔn)片，其中單層標(biāo)準(zhǔn)片又可分為單元素標(biāo)準(zhǔn)片、單元素薄片鍍?cè)诘撞纳?、純?cè)氐撞臉?biāo)準(zhǔn)片、合金薄片、合金鍍?cè)诘撞纳系?，各種規(guī)格搭配，可根據(jù)客戶個(gè)性化需要定制。所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國(guó)工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片，并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于各種品牌的X射線測(cè)厚儀（涂鍍層厚度測(cè)試儀） 應(yīng)用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測(cè))、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測(cè)厚儀（膜厚計(jì)）。

X射線鍍層膜厚儀元素標(biāo)樣Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片 常規(guī)厚度

X射線鍍層膜厚儀元素標(biāo)樣Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片