X射線光譜儀校準(zhǔn)片專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　X射線光譜儀校準(zhǔn)片采用了磁性測厚法：是一種超小型丈量儀，它能快速，無損傷，切確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂。電鍍層厚度的丈量?？善毡橛糜谥圃鞓I(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測領(lǐng)域。出格適用于工程現(xiàn)場丈量。

　　X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）。

　　X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片采用二次熒光法：它的原理是物資經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。