電鏡耗材，進(jìn)口樣品臺(tái)及存儲(chǔ)盒

型號(hào) ：AGG301 直徑12.5mm釘形樣品臺(tái)

SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺(tái)，適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑為12.5mm，腿長(zhǎng)8mm。材質(zhì)為鋁，包裝為100個(gè)/包。此外還有直徑為25mm和32mm的樣品臺(tái)。

型號(hào)：AGG399 銅制直徑12.5mm釘形樣品臺(tái)

SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺(tái)，適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑為25mm，腿長(zhǎng)8mm，單個(gè)裝。材質(zhì)有鋁材質(zhì)和銅材質(zhì)。此外還有直徑為12.5mm和32mm的樣品臺(tái)。

型號(hào)：AGG3385 JEOL圓柱形樣品臺(tái)直徑12.5mm，高度5mm，50個(gè)/包

SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺(tái)適用于JEOL日本電子掃描電鏡，此樣品臺(tái)直徑為12.5mm，高度為5mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，50個(gè)/包。

型號(hào)：AGG3376 JEOL日本電子圓柱形樣品臺(tái)直徑32mm，高5mm

SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺(tái)適用于JEOL 日本電子掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑為32mm，高度5mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個(gè)裝。

型號(hào)：AGG3165 雙90°截面，φ25mm釘形樣品臺(tái)

此為雙90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺(tái)，樣品臺(tái)直徑為25mm，腿長(zhǎng)9.5mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，同時(shí)也適用于飛納Phenom臺(tái)式電鏡，材質(zhì)為鋁。

截面樣品臺(tái)比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導(dǎo)體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺(tái)上觀察，可免于頻繁傾轉(zhuǎn)樣品臺(tái)，防止樣品在傾轉(zhuǎn)過(guò)程中掉落。

型號(hào)：OINACM50 JEOL直徑50mm樣品臺(tái),可放8個(gè)12.5mm釘臺(tái)

適用于日本電子電鏡，樣品臺(tái)直徑50mm，可放置8個(gè)標(biāo)準(zhǔn)釘形樣品臺(tái)，一次性可多放8個(gè)樣品到樣品倉(cāng)進(jìn)行觀察，提高工作效率

型號(hào)：AGG3387 JEOL日本電子圓柱形樣品臺(tái)直徑50mm，高度10mm

SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺(tái)適用于JEOL日本電子掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑為50mm，高度10mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個(gè)裝。

型號(hào)：AGG3313 Hitachi M4樣品臺(tái)

直徑15mm，高度6mm、直徑25mm、直徑32mm

SEM掃描電鏡M4樣品臺(tái)適用于Hitachi 日立掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑為15mm，高度為6mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。 此外還有直徑25mm和32mm樣品臺(tái)可選。

型號(hào)：AGG3423 Hitachi 高純碳M4樣品臺(tái)直徑15mm,高度6mm

型號(hào)：AGG3659 M4螺紋樣品臺(tái)轉(zhuǎn)釘型樣品臺(tái)轉(zhuǎn)換臺(tái)

此轉(zhuǎn)換臺(tái)適用于Hitachi日立掃描電鏡，底座為15mm直徑帶M4螺紋樣品臺(tái)，上面可固定釘形樣品臺(tái)，釘臺(tái)直徑可從12.5mm直徑到25mm直徑。材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個(gè)裝。

Hitachi樣品臺(tái)樣品臺(tái)管

SEM掃描電鏡樣品臺(tái)管可將釘形樣品臺(tái)固定于底部，更安全、方便地保存或轉(zhuǎn)移樣品。樣品臺(tái)管有可存儲(chǔ)Hitachi M4樣品臺(tái)，大直徑可到38mm，每包10個(gè)裝。

SEM-TEM載網(wǎng)樣品臺(tái)

SEM-TEM載網(wǎng)樣品臺(tái)為SEM掃描電鏡釘形樣品臺(tái)，可放置TEM銅網(wǎng)，對(duì)于特定的SEM/EDS應(yīng)用中，需要將粉末樣品分散于銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。此釘形樣品臺(tái)上可安全地放置4個(gè)銅網(wǎng)。適用于Zeiss,FEI和TESCAN掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。

型號(hào)：AGG3392 可夾持觀察樣品截面樣品臺(tái)

此帶夾持樣品臺(tái)可用于夾持固定樣品側(cè)面，方便SEM中觀察樣品截面，也可用來(lái)夾持處于脫水處理中的生物組織樣品，進(jìn)行SEM等觀察。適用于任何標(biāo)準(zhǔn)的樣品臺(tái)，材質(zhì)為鋁材質(zhì)

型號(hào)：AG15370-1 FESEM T-base樣品臺(tái)

日立S-4800、SU-70、SU6600和SU8000系列FESEM的新型模塊化T-Base適配器。由真空級(jí)鋁制成，與氣閘機(jī)械手和鎖桿對(duì)應(yīng)。如果SEM級(jí)行程允許，可與任何模塊化SEM試樣夾持器一起使用。包括M4螺釘。

型號(hào)：AGG3033-12 單夾片可觀察截面釘形樣品臺(tái)直徑12.5mm

此釘形樣品臺(tái)為90°截面，單面帶一個(gè)夾片，樣品臺(tái)直徑為12.5mm，單夾片便于固定樣品到樣品臺(tái)側(cè)面，來(lái)觀察樣品截面。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和Tescan等掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)

型號(hào)：AGG3035-25 雙夾片45°/90°截面可觀察截面釘形樣品臺(tái)

此釘形樣品臺(tái)為45°/90°截面，雙面各帶一個(gè)夾片，樣品臺(tái)直徑為25mm，45°及90°截面的夾片分別適用于固定不同樣品或樣品的不同截面，可同時(shí)放置兩個(gè)樣品，樣品臺(tái)直徑為25mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和Tescan等掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。

型號(hào)：AGG3162 45/90°截面，φ12.5mm釘形樣品臺(tái)

此為45/90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺(tái)，樣品臺(tái)直徑為12.5mm，腿長(zhǎng)9.5mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，同時(shí)也適用于飛納Phenom臺(tái)式電鏡，材質(zhì)為鋁。截面樣品臺(tái)比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導(dǎo)體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺(tái)上觀察，可免于頻繁傾轉(zhuǎn)樣品臺(tái)，防止樣品在傾轉(zhuǎn)過(guò)程中掉落。

帶夾片可固定釘形樣品臺(tái)帶一個(gè)夾子

此款SEM掃描電鏡釘形帶夾片樣品臺(tái)適用于ZEISS,FEI及TESCAN掃描電鏡，樣品臺(tái)直徑有25mm，可帶夾片1個(gè)，2個(gè)及3個(gè)，夾片可用于固定所需觀察的樣品，避免或減少測(cè)試中出現(xiàn)漂移，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。

型號(hào)：AGG301F Zeiss短款直徑12.5mm釘形樣品臺(tái)

此為短款SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺(tái)，適用于Zeiss掃描電鏡中7mm厚度的樣品座，樣品臺(tái)直徑為12.5mm，腿長(zhǎng)6mm。材質(zhì)為鋁，包裝為100個(gè)/包。

型號(hào)：51-1120-408 TKD（t-EBSD）樣品臺(tái)EBSD樣品臺(tái)

透射菊池衍射（TKD），是一種基于SEM，應(yīng)用傳統(tǒng)EBSD硬件對(duì)電子透明樣品進(jìn)行研究的新方法。已經(jīng)證明，該方法可使空間分辨率優(yōu)于10nm。TKD技術(shù)是納米結(jié)構(gòu)和大變形樣品EBSD表征的理想技術(shù)。此TKD樣品臺(tái)為t-EBSD樣品臺(tái)。

型號(hào)：51-1120-109 70度EBSD預(yù)傾樣品臺(tái)21mm長(zhǎng)度

70度預(yù)傾EBSD樣品臺(tái)，規(guī)格：直徑12mm，高度（不含釘腿長(zhǎng)度）21mm，頭部可固定一個(gè)的釘形樣品臺(tái)（51-1120-465）。

型號(hào)：51-H5-550 70度預(yù)傾可調(diào)高度EBSD樣品臺(tái)（1個(gè)裝）

70度預(yù)傾可調(diào)高度EBSD樣品臺(tái)，直徑13.8mm，高度從21mm到63.5mm可調(diào) ，頭部可固定一個(gè)釘形樣品臺(tái)。EBSD通用型樣品臺(tái)，高度可自由調(diào)節(jié)，以適用于多種掃描電鏡型號(hào)。

冷凍電鏡載網(wǎng)樣品盤(pán) 單個(gè)裝、7個(gè)裝

此冷凍電鏡樣品盤(pán)用于: 低溫下，安全保存或轉(zhuǎn)移已制備的冷凍電鏡樣品

每個(gè)圓盤(pán)內(nèi)有12個(gè)位置，可放置12個(gè)帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒，或24個(gè)不帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒；

每個(gè)圓盤(pán)上皆有數(shù)字標(biāo)識(shí)位置，易于檢索及定位樣品；

每個(gè)圓盤(pán)都設(shè)計(jì)有的雙耳空間，方便鑷子夾取樣品，避免劃傷樣品表面；

基礎(chǔ)工具包內(nèi)有整套圓盤(pán)及備用工具；

冷凍TEM電鏡載網(wǎng)樣品盒

此冷凍電鏡樣品盒用于儲(chǔ)存低溫玻璃化狀態(tài)的冷凍TEM電鏡樣品。適用于儲(chǔ)存和轉(zhuǎn)移通過(guò)冷凍裝置如FEI Vitrobot，Gatan 626, Gatan CT3500，以及其他低溫玻璃化系統(tǒng)制備的冷凍電鏡樣品。

樣品盒有兩個(gè)型號(hào)，每個(gè)都有4個(gè)存儲(chǔ)位，可存儲(chǔ)TEM載網(wǎng)。圓形冷凍樣品盒適合FEI Vitrobo 和Gatan 626，分為帶保護(hù)蓋及不帶保護(hù)蓋兩種，所帶的保護(hù)蓋為透明的可旋轉(zhuǎn)型保護(hù)蓋，或者為釘形保護(hù)蓋。方形冷凍樣品盒帶一個(gè)透明的可旋轉(zhuǎn)型保護(hù)蓋，適合Gatan CT3500冷凍轉(zhuǎn)移支架。樣品盒帶有的透明保護(hù)蓋可通過(guò)5/40型號(hào)不銹鋼螺絲固定在中心位置。

SEM掃描電鏡樣品臺(tái)管，釘形樣品臺(tái)盒

SEM掃描電鏡樣品臺(tái)管可將釘形樣品臺(tái)固定于底部，更安全、方便地保存或轉(zhuǎn)移樣品。樣品臺(tái)管有可存儲(chǔ)12.5mm直徑釘形樣品臺(tái)和存儲(chǔ)Hitachi M4樣品臺(tái)兩種規(guī)格

樣品臺(tái)存儲(chǔ)盒可裝14個(gè)釘形樣品臺(tái)

SEM掃描電鏡樣品臺(tái)存儲(chǔ)盒有3個(gè)規(guī)格可選，可存儲(chǔ)14枚直徑為12.5mm的釘形樣品臺(tái)（ZEISS/FEI/TESCAN），也可存儲(chǔ)12枚直徑為10mm和15mm的圓柱形樣品臺(tái)（JEOL），還可存儲(chǔ)14枚直徑為15mm的Hitachi日立M4樣品臺(tái)。樣品盒尺寸為121×77×34mm。

型號(hào)AGG3319：高彈膜盒樣品盒12個(gè)/包（35mm*35mm*18mm）

此高彈膜盒頂部和底部都附有一層Platilon薄膜，此薄膜是具有高彈性、有化學(xué)惰性的薄膜，可固定并保護(hù)樣品。適用于存放各種精密、易碎的樣品。存儲(chǔ)盒為透明盒子，可不用打開(kāi)盒子對(duì)樣品進(jìn)行檢查，避免了物體暴露在灰塵或其他環(huán)境中。

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