儀器簡介:
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級別,是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。
用儀器途 :
應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗方面也占有重要地位,在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實驗設(shè)備。
儀器特點:
★ 直讀納米級光程差,無須計算。
★ 雙分視場零位檢測,靈敏度高。
★ 樣品工作臺45度自動定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實。
技術(shù)參數(shù):
技 術(shù) 參 數(shù) | 技術(shù)指標(biāo) |
單 色 光 波 長 | 589.44nm |
光 程 差測定范圍 | ±590nm |
度 盤 格 值 | 5nm |
最小讀數(shù)(1/5估讀) | 1nm |
儀 器 零 位 誤 差 | ±2nm |
波 片 讀 數(shù)重復(fù)性 | 1nm |
光 源 | 220V 20W低壓鈉燈 |
被 檢 樣品尺寸 | 寬度440mm;長度440mm;高度240 mm |
儀 器 尺 寸 (mm) | 413×250×400 |
重 量 | 凈重7kg 毛重8kg |