探知微觀領域!

掃描探針顯微鏡（SPM），又稱原子力顯微鏡（AFM），是利用細微的探針，在樣品表面掃描，進行高放大倍率觀察三維形貌的顯微鏡。SPM-9600是以快速觀察，操作簡單而擁有優(yōu)良聲譽的新一代SPM。

• 主要技術規(guī)格

  測定模式	標準：接觸、動態(tài)、相位
  	選配模式：力調制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM）
  分辨率	水平0.2nm　垂直0.01nm
  掃描范圍（X/Y/Z）	30μm×30μm×5μm（標準）
  	125μm×125μm×7μm（選配）
  	55μm×55μm×13μm（選配）
  樣品形狀	24mm × 8mm
  樣品裝載方式	頭部滑動機構
  分束器滑動機構	內置在AFM頭內

  ■ 設置室的環(huán)境 　 

  設置室理想的空調條件如下。 　 
  溫度　23°±5℃ 　
  濕度　60%以下
  ■ 電源
  運行本裝置需要如下電源。 　 
  單相 100V-120V　50/60Hz　10A　1路
  接地　第3種地線
  ■ 裝置的尺寸和重量
  SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg
  控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg