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更新時(shí)間：2022-07-07 15:50:22瀏覽次數(shù)：167次
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PILATUS3 X 混合光子計(jì)數(shù) (HPC) 探測(cè)器的出色性能與碲化鎘 (CdTe) 傳感器材料出色的高能探測(cè)能力相結(jié)合。PILATUS3 X CdTe 探測(cè)器是一款大面積單光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，可提供高達(dá) 100 keV 的高能探測(cè)。 它們使得 PILATUS3 探測(cè)器技術(shù)的*性能可用于硬 X 射線應(yīng)用，而不會(huì)受到任何影響。
1.核心優(yōu)勢(shì)
- 由于直接檢測(cè) X 射線，沒有余輝或圖像滯后
- 通過無噪聲性能、高動(dòng)態(tài)范圍和尖點(diǎn)擴(kuò)展功能實(shí)現(xiàn)上佳數(shù)據(jù)質(zhì)量
- 常溫運(yùn)行，性能穩(wěn)定
- 高幀率、短讀數(shù)的快速探測(cè)
- 多種探測(cè)器尺寸選擇
2.應(yīng)用領(lǐng)域
X射線衍射
– 高能 X 射線衍射
– 漫散射和對(duì)分布函數(shù)
– 衍射顯微鏡和層析成像
– X射線粉末衍射(PD)
功能分析
– 高壓/高溫 XRD
– 非彈性 X 射線散射
– X 射線漫散射
– 時(shí)間分辨/原位實(shí)驗(yàn)
成像
– X 射線投影成像（放射線照相術(shù)）
– X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)
– 小動(dòng)物/臨床前計(jì)算機(jī)斷層掃描
– X 射線相襯成像
– 無損檢測(cè) (NDT) 和安全性
3.技術(shù)規(guī)格
PILATUS3 X CdTe | 300K | 300K-W | 1M | 2M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 | 1 x 3 | 3 x 1 | 2 x 5 | 3 x 8 |
有效面積：寬×高 [mm2] | 83.8 x 106.5 | 253.7× 33.5 | 168.7 ×179.4 | 253.7 × 288.8 |
像素大小 [μm2] | 172 x 172 | |||
總像素?cái)?shù)量：（水平x垂直） | 487 × 619 | 1475 × 195 | 981 × 1043 | 1475 × 1679 |
計(jì)數(shù)率 | 5x106 counts/s/pixel（1.7x108counts/s/mm2） | |||
間隙寬度, 水平/垂直 [像素] 每個(gè)模塊加上3個(gè)像素的水平間隙 | -* / 17 | 7* / - | 7* / 17 | 7* / 17 |
非靈敏區(qū) [ % ] | 6.1 | 1.6 | 7.8 | 8.5 |
缺陷像素 | <0.1% | |||
幀頻 [Hz] | 500 | 500 | 500 | 250 |
讀出時(shí)間 [ms] | 0.95 | |||
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel (FWHM) | |||
閾值能量 [keV] | 8-40 | |||
計(jì)數(shù)器深度 | 20 bits(1,048,576 counts) | |||
功耗 [W] | 30 | 30 | 165 | 250 |
尺寸（WHD）[mm3] | 158 x 193 x 262 | 280 x 62 x 296 | 265 x 286 x 455 | 384 x 424 x 456 |
重量 [kg] | 7.5 | 7.0 | 25 | 46 |
模塊冷卻 | 水冷 | |||
電子冷卻 | 水冷 | 風(fēng)冷 | ||
外接觸發(fā)電壓 | 5V TTL | |||
北京優(yōu)納珂科技有限公司為您提供PILATUS3 X CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息，PILATUS3 X CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測(cè)器產(chǎn)地為瑞士、品牌為德科特思，型號(hào)為 PILATUS3 X CdTe，價(jià)格為面議，更多相關(guān)信息可電話咨詢，公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)!
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