劉錕
當前位置:廣東德瑞檢測設備有限公司>>可靠性環(huán)境試驗箱>>節(jié)能型恒溫恒濕試驗箱>> DR-H201-D6低溫濕熱交變試驗箱
劉錕
產地 | 國產 | 降溫時間 | 60℃/min |
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升溫時間 | 3℃/min | 是否防爆 | 常規(guī)型 |
溫度波動度 | 2℃ | 溫度范圍 | 常規(guī)型,-40~150℃ |
溫度均勻度 | 0.5℃ | 溫度偏差 | 1℃ |
制冷方式 | 壓縮機制冷 |
模擬環(huán)境條件:能夠模擬不同的環(huán)境條件,包括高溫、低溫、潮濕、干燥等,從而評估產品的耐溫、耐濕性能。
高精度控制:具備高精度的溫度和濕度控制能力,確保試驗箱內環(huán)境的穩(wěn)定性。
快速溫度變化速率:能夠在短時間內模擬出溫度和濕度的環(huán)境,以測試各種材料和產品的性能。
安全保護:具有完善的安全保護措施,如過載保護、短路保護、溫度過高保護等,保證設備的運行穩(wěn)定性和可靠性。
電子行業(yè):用于測試電子元器件在不同溫度和濕度條件下的性能和壽命。
汽車行業(yè):評估汽車零部件在高溫、低溫、濕度等條件下的性能。
航空航天:測試飛機零部件在不同環(huán)境條件下的性能。
行業(yè):評估用設備在環(huán)境條件下的性能和可靠性。
科研院校:用于新材料性能測試,評估新材料在不同環(huán)境條件下的物理和化學性質變化。
產品性能測試:低溫濕熱試驗箱用于測試電子元器件、集成電路等產品在高溫或低溫下的性能。它可以檢驗半導體器件在高溫下的熱穩(wěn)定性、可靠性以及電性能;在低溫下,則可以檢驗其冷啟動能力、低溫下的工作性能等。
質量控制和可靠性評估:通過對產品在溫度條件下的測試,可以發(fā)現潛在的缺陷和問題,從而及時進行改進和優(yōu)化。這對于提高半導體產品的質量和性能,確保其在各種環(huán)境中都能穩(wěn)定可靠地工作具有重要意義。
環(huán)境適應性測試:低溫試驗的目的是確定電工電子產品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。通過將產品暴露在低溫環(huán)境中,觀察其在不同溫度下的性能變化,評估其是否能夠正常工作。
型式試驗和零部件篩選:在產品研發(fā)階段,低溫濕熱試驗箱用于型式試驗和零部件篩選試驗,模擬低溫環(huán)境,記錄產品的變化。
技術與設備要求:低溫濕熱試驗箱需要滿足一定的技術和設備要求,包括提供穩(wěn)定的低溫環(huán)境,溫度范圍通常為 -70℃至 +150℃,并配備有溫度控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和通風系統(tǒng)等,以確保試驗箱內的溫度均勻穩(wěn)定。
標準遵循:在進行低溫測試時,會遵循一定的國際和國家標準,如GB/T 2423.1、2等,這些標準規(guī)定了低溫試驗的具體方法和要求。
試驗程序:包括預處理、初始檢測、低溫試驗、恢復和最終檢測等步驟,以全面評估產品在低溫環(huán)境下的性能變化。
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