產(chǎn)地 |
國(guó)產(chǎn) |
降溫時(shí)間 |
60℃/min |
升溫時(shí)間 |
3℃/min |
是否防爆 |
常規(guī)型 |
溫度波動(dòng)度 |
2℃ |
溫度范圍 |
常規(guī)型,-40~150℃ |
溫度均勻度 |
0.5℃ |
溫度偏差 |
1℃ |
制冷方式 |
壓縮機(jī)制冷 |
-40度低溫試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬低溫環(huán)境的測(cè)試設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各個(gè)行業(yè),尤其是在電子行業(yè)中,在進(jìn)行測(cè)試時(shí),會(huì)遵循一定的國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),如GB/T 2423.1等,這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫試驗(yàn)的具體方法和要求。
-40度低溫試驗(yàn)箱的適用范圍和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如下:
適用范圍:
電工電子產(chǎn)品:適用于非散熱的電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)的低溫試驗(yàn)。
電子零部件行業(yè):在電子零部件行業(yè)中,用于測(cè)試集成電路、電阻、電容和半導(dǎo)體器件等在各種環(huán)境條件下的性能。
產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制:用于研發(fā)階段的型式試驗(yàn)、零部件篩選試驗(yàn),以及質(zhì)量控制過(guò)程中的產(chǎn)品檢測(cè)。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):IEC 60068-2-1:2007,這是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)中關(guān)于低溫試驗(yàn)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
溫度范圍:根據(jù)GB2423標(biāo)準(zhǔn),不同地區(qū)和應(yīng)用場(chǎng)合下,低溫測(cè)試的范圍可設(shè)定為:-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。
試驗(yàn)條件:溫度:-55℃、-40℃、-25℃、-10℃ 或制造商與用戶(hù)商定的其他溫度點(diǎn)。試驗(yàn)時(shí)間:制造商與用戶(hù)商定,但不應(yīng)少于產(chǎn)品在該溫度下達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)所需的時(shí)間。
試驗(yàn)步驟:包括預(yù)處理、初始檢測(cè)、低溫試驗(yàn)、恢復(fù)和最終檢測(cè)等步驟。
試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定:根據(jù)產(chǎn)品的性能指標(biāo)和試驗(yàn)要求,對(duì)低溫試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)定。如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能變化在允許范圍內(nèi),則認(rèn)為產(chǎn)品通過(guò)了低溫試驗(yàn);如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下出現(xiàn)性能故障或損壞,則認(rèn)為產(chǎn)品未通過(guò)低溫試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)箱在測(cè)試時(shí)需要注意以下安全事項(xiàng):
試樣放置:試樣與試樣、試樣與冷凍箱內(nèi)膽之間應(yīng)留有一定間隙,以保證冷氣流動(dòng),降溫均勻。
易失水分物品:對(duì)于試驗(yàn)溫度較高物體和易失水分的物體,應(yīng)使用密封較好的食品袋或保鮮紙包好放入,以防水分跑出,在工作室內(nèi)結(jié)霜,影響制冷。
易燃易爆物品:嚴(yán)禁在冷凍箱內(nèi)存放揮發(fā)性、燃燒性的氣體、液體,如汽油、酒精等物品。
試樣數(shù)量:一次放入的試樣不能過(guò)多,否則會(huì)使壓縮機(jī)長(zhǎng)時(shí)間不停機(jī),而且箱內(nèi)溫度下降緩慢,反而達(dá)不到要求。
工作完畢后處理:工作完畢后,切斷電源,取出已冷凍樣品,打開(kāi)冷凍箱門(mén)讓其自然升溫,化霜層融化,將水放出用軟布吸干擦凈。
設(shè)備使用范圍:本設(shè)備僅適合高溫+150℃,低溫-40℃范圍內(nèi)的產(chǎn)品試驗(yàn)。
禁止危險(xiǎn)物質(zhì)試驗(yàn):禁止易爆、易燃及高腐蝕物質(zhì)的試驗(yàn)。
箱門(mén)開(kāi)啟:本機(jī)工作于0℃以下時(shí),應(yīng)避免打開(kāi)箱門(mén),否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)冰,降低本機(jī)使用效率。
非必要不開(kāi)門(mén):試驗(yàn)中,除非絕對(duì)必要切勿打開(kāi)箱蓋,否則可能會(huì)引起人身傷害、系統(tǒng)誤動(dòng)作,可能會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解,觸發(fā)超溫保護(hù)。
電源及接地:試驗(yàn)箱在安裝時(shí)箱體外殼必須接地,如果試驗(yàn)箱沒(méi)有接地,一旦漏電則會(huì)非常危險(xiǎn)。
電源線徑:電源進(jìn)線線徑必須等于大于要求線徑,否則設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中負(fù)載嚴(yán)重,很容易引起負(fù)載燒壞。
超溫保護(hù)器檢查:需要定期檢查電路斷路器和超溫保護(hù)器,以提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù)。
照明燈使用:照明燈除必要時(shí)打開(kāi)外,其余時(shí)間應(yīng)關(guān)閉。
工作室干燥:在做低溫前,應(yīng)將工作室擦干。
試樣均勻放置:所有試樣應(yīng)均勻放置,試驗(yàn)的放置應(yīng)保證工作室有效空間內(nèi)。
通訊接口連接:在插、拔試驗(yàn)箱與計(jì)算機(jī)的通訊接口連接線時(shí),必須先關(guān)閉計(jì)算機(jī)電源,決不允許帶電插拔。
電源關(guān)閉:試驗(yàn)工作結(jié)束,不用試驗(yàn)箱時(shí),務(wù)必關(guān)閉總電源開(kāi)關(guān)。
-40度低溫試驗(yàn)箱在測(cè)試時(shí)需要注意的安全事項(xiàng),遵循這些安全指南可以確保測(cè)試過(guò)程的安全和設(shè)備的正常運(yùn)行。