劉錕
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DR-H203-50L-1
德瑞檢測
生產商
東莞市
更新時間:2024-11-18 14:12:11瀏覽次數:44次
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產地 | 國產 |
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國家標準冷熱沖擊試驗箱儀器產品型號
型號 | DR-H203-100 | DR-H203-150 | DR-H203-225 | DR-H203-500 | DR-H203-800 | DR-H203-1000 |
內箱尺寸(WxHxD)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
溫度范圍 | G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) | |||||
結構 | 三箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、測試區(qū)) / 兩箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、吊籃) | |||||
氣門裝置 | 強制的空氣裝置氣門 / 吊籃 | |||||
內箱材質 | 鏡面不銹鋼 SUS 304 | |||||
外箱材質 | 霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆 | |||||
測試架 | 不銹鋼架 | |||||
冷凍系統(tǒng) | 二段式 | |||||
冷卻方式 | 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(風冷式) | |||||
高溫區(qū)溫度 | +60 ℃~ +200 ℃ | |||||
低溫區(qū)溫度 | -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ | |||||
高溫沖擊溫度范圍 | +60 ℃~ +150℃ | |||||
低溫沖擊溫度范圍 | -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ | |||||
溫度均勻度 | ± 2 ℃ | |||||
溫度波動度 | ± 1.0 ℃ | |||||
高溫沖擊時間 | Rt ~ +150 ℃ /5min | |||||
低溫沖擊時間 | Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min | |||||
預熱時間 | 45min | |||||
預冷時間 | 100min |
溫度控制與范圍:溫度冷熱沖擊試驗箱能夠精確控制高低溫度的范圍,通常低溫可達-70℃,高溫可達+150℃或更高。
快速溫度變化:設備能夠在極短的時間內(通常幾秒到幾分鐘)完成溫度的轉換,模擬真實的溫度沖擊環(huán)境。
溫度波動度與均勻性:溫度波動度通常要求控制在±0.5℃以內,溫度均勻度在±2℃以內,確保試驗箱內各個位置的樣品都能經歷相似的溫度沖擊條件。
安全保護:具備過溫、過載、短路等多重安全保護措施,確保試驗過程的安全性。
數據記錄與分析:現(xiàn)代冷熱沖擊試驗箱通常配備有數據記錄系統(tǒng),可以實時記錄試驗數據,便于后續(xù)分析。
控制系統(tǒng):控制器采用的可編程觸摸液晶顯示屏,具有PID參數自整定功能,能夠自動進行詳細的故障顯示和報警。
結構特性:內箱材質通常采用1.2mm SUS#304不銹鋼,外箱材質采用1.2mm冷軋鋼板,表面噴漆處理,保溫層采用高強度PU發(fā)泡與高密度防火玻璃纖維棉(厚度100mm)。
溫度沖擊范圍與恢復時間:溫度沖擊范圍可從-30℃至150℃,溫度恢復時間通常在5分鐘以內。
切換時間:兩箱式試驗箱的樣品轉移時間通常小于10秒,三箱式試驗箱則通過控制氣體流動來完成溫度沖擊,切換時間快速。
噪音控制:設備運行時的噪音控制在65db以內。
耐用性和可靠性:設備采用高強度、高可靠性的結構設計,確保了設備的高可靠性和使用壽命。
環(huán)保型制冷劑:使用環(huán)保型制冷劑,確保設備更加符合環(huán)境保護要求。
冷熱沖擊試驗箱的測試標準主要包括以下幾項:
GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法:規(guī)定了電工電子產品在低溫條件下的試驗方法,適用于評估產品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。
GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法:規(guī)定了電工電子產品在高溫條件下的試驗方法,用于測試產品在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。
GB/T10592-2008高低溫箱技術條件:涉及高低溫試驗箱的技術條件,包括設備的性能要求和測試方法。
GJB150.3-1986JUN用設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗:JUN用標準,規(guī)定了JUN用設備在高溫條件下的試驗方法。
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求:JUN用標準,涉及溫度沖擊試驗的具體要求和方法。
IEC60068-2-14基本環(huán)境試驗規(guī)范第2部分試驗N溫度變化:國際電工委員會標準,規(guī)定了在特定時間內快速溫度變化試驗的方法,包括溫度轉換時間、保持時間和極限值等參數。
ISO16750-4:涉及汽車電子設備在冷熱沖擊環(huán)境下的試驗條件和方法。
溫度范圍:低溫試驗箱應能夠達到并維持特定的低溫條件,通常范圍為-70℃至+150℃。檢查設備是否能夠滿足所需的低和高溫度要求。
溫度波動度:試驗箱在設定溫度下的波動范圍應盡可能小,以確保測試環(huán)境的穩(wěn)定性。溫度波動度通常要求不超過±0.5°C。
升降溫速率:試驗箱應具備快速升降溫的能力,以模擬實際使用中溫度變化的情況。一般要求升溫速率和降溫速率分別達到2-3°C/min。
溫度均勻性:為限制輻射影響,設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,確保試驗箱內各處的溫度均勻。
試驗程序:包括試驗前準備、樣品安裝、試驗執(zhí)行、中間檢測和試驗后處理等步驟。在試驗過程中,需要記錄樣品的性能數據、外觀變化和功能表現(xiàn)等信息,以便后續(xù)分析和評估。
試驗效果評定:根據產品的性能指標和試驗要求,對低溫試驗結果進行評定。如果產品在低溫環(huán)境下的性能變化在允許范圍內,則認為產品通過了低溫試驗;如果產品在低溫環(huán)境下出現(xiàn)性能故障或損壞,則認為產品未通過低溫試驗。
符合標準:低溫試驗箱應滿足GB/T2423.1-2008等國家標準。這些標準提供了詳細的試驗方法和程序,對電工電子產品在低溫環(huán)境下的性能進行了全面評估。
設備性能特點:如綠色環(huán)保,微電腦控制,溫度數字顯示,箱內溫度可調,高密度保溫層,保溫效果好,節(jié)能。
產品設計與開發(fā):在產品設計的初期階段,通過低溫試驗評估設計方案的可行性,確保產品能夠在預期的溫度范圍內正常工作。這對于電子元器件制造過程中的低溫工作性能和耐久性測試尤為重要,如手機、電池等在低溫環(huán)境下的啟動性能和穩(wěn)定性都需要經過低溫試驗箱的嚴格測試。
材料測試:低溫試驗箱用于測試電子組件中的各種材料(如塑料、金屬、陶瓷)在溫度下的物理和化學性質,如熱膨脹系數、耐熱性、抗冷裂性等。
組件和部件測試:檢驗電子元件(如半導體芯片、電阻、電容、電感)在高溫或低溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性,包括電氣參數、功能可靠性等。
產品可靠性驗證:通過高溫和低溫循環(huán)測試來模擬產品在實際使用中可能遇到的環(huán)境變化,評估產品的耐溫差性能和長期可靠性。
環(huán)境適應性評估:確保電子產品能夠在全球不同氣候區(qū)域(如熱帶、寒帶、高原)正常工作,滿足不同地區(qū)用戶的需求。
質量控制與標準符合性:在生產過程中,使用低溫試驗箱進行產品質量控制,確保每批產品都能滿足環(huán)境適應性要求。進行各種國際和國內標準的測試,如IEC、MIL-STD、ISO、ASTM等,以證明產品符合規(guī)定的環(huán)境測試標準。
故障分析與改進:當產品在現(xiàn)場使用中出現(xiàn)故障時,可以通過低溫試驗箱復現(xiàn)故障條件,幫助工程師分析故障原因并進行設計改進。
市場競爭力提升:通過低溫環(huán)境試驗,證明產品的環(huán)境適應性和可靠性,增強客戶信心,提升產品市場競爭力。
國際電工委員會(IEC)標準:
IEC 60068-2-14:這是國際電工委員會制定的一個標準,用于評估電子產品和材料在溫度變化下的可靠性和耐受性。該標準覆蓋了一系列冷熱沖擊試驗箱的設計和使用要求,以及相關試驗方法。
中國國家標準(GB):
GB/T 2423.1-2008:電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗A:低溫。
GB/T 2423.2-2008:電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗B:高溫。
GB/T 2423.22-2002:電工電子產品環(huán)境試驗 第22部分:試驗方法、試驗Ka:冷熱沖擊。
美國JUN用標準(MIL-STD):
MIL-STD-810F:環(huán)境工程考慮和實驗室試驗,其中包含了對冷熱沖擊試驗的要求。
國際標準化組織(ISO)標準:
ISO 16750-4:規(guī)定了汽車電子設備在冷熱沖擊環(huán)境下的試驗條件和方法。
國JUN標(GJB):
GJB 150-86:JUN用設備環(huán)境試驗方法,其中包括了高溫試驗和低溫試驗的要求,適用于JUN用設備的環(huán)境適應性測試。
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