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RHESCA CSR-2000超薄膜附著強(qiáng)度測試儀

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更新時間：2024-06-18 08:22:06瀏覽次數(shù)：265次

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產(chǎn)品簡介

【已停產(chǎn)，代替品CSR-5000，點擊查看】RHESCA超薄膜附著強(qiáng)度測試儀CSR-2000簡單介紹基于JISR-3255標(biāo)準(zhǔn)，以MICROSCRATCH法評價光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體擴(kuò)散工程、表面改質(zhì)以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強(qiáng)度）的超薄膜附著強(qiáng)度測試儀

詳細(xì)介紹

【已停產(chǎn)，代替品CSR-5000，點擊查看】

RHESCA超薄膜附著強(qiáng)度測試儀CSR-2000簡單介紹

基于JIS R-3255標(biāo)準(zhǔn)，以MICRO SCRATCH法評價光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體擴(kuò)散工程、表面改質(zhì)以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強(qiáng)度）的超薄膜附著強(qiáng)度測試儀。為成膜研究與測試所的測試設(shè)備。

超薄膜附著強(qiáng)度測試：原子化（分子化）的膜材料到達(dá)基材表面成型時，與基材表面的原子的結(jié)合數(shù)會直接影響到膜的密著強(qiáng)度。這個結(jié)合數(shù)，受分子的能量狀態(tài)、基板的清洗狀態(tài)等的影響。在與成膜有關(guān)的研究開發(fā)機(jī)工程管理中，可使用本設(shè)備進(jìn)行密著強(qiáng)度的評價。

以往的劃痕測試儀，摩擦膜表面造成破壞點時，依靠摩擦力的變化及音響信號等來評價密著強(qiáng)度。但是，膜厚在微米級以下的薄膜的破壞點很難檢測出來。為解決這個問題，CSR-2000采用高感度的能夠檢測出薄膜破壞的MICRO SCRATCH法，測試納米級別的薄膜的附著強(qiáng)度。評價液晶顯示屏的透明電極膜、光學(xué)薄膜、DLC、磁盤的保護(hù)膜等的附著強(qiáng)度。

RHESCA超薄膜附著強(qiáng)度測試儀CSR-2000的特點：

具有直線增加荷重的控制功能，在鏡頭等的曲面上也能做測試

可以進(jìn)行以特定荷重來評價的特定負(fù)荷測試

基于信號的FFT分析功能，高感度進(jìn)行剝離檢測

測試部位的設(shè)定以及測試后的劃傷觀察等簡單易行

測試不需要花費很多時間(1次測試約1～2分鐘)

與小型硬度計等薄膜物性測試儀相比，能夠在普通的操作臺上測試

能進(jìn)行JIS R-3255標(biāo)準(zhǔn)(以剝離為基板的薄膜附著性測試方法)的測試

荷重檢出裝置

荷重印加范圍1mN/1000mN

荷重分辨率0.2mN

允許過負(fù)荷300%FS