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日本奧林巴斯 Olympus OmniScan MX ECA渦流陣列探傷儀

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產(chǎn)品型號(hào)OmniScan MX ECA

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

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更新時(shí)間:2022-11-12 15:40:24瀏覽次數(shù):210次

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日本奧林巴斯 Olympus OmniScan MX ECA渦流陣列探傷儀

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述


OmniScan MX ECA用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個(gè)可以在同一采集操作過(guò)程中使用多頻的選項(xiàng)。渦流陣列檢測(cè)渦流陣列技術(shù)渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè))。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。渦流陣列探頭Olympus NDT制造的R/D Tech ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。



渦流陣列的優(yōu)勢(shì)同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì):


檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。

單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。

減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。

適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。

改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率(POD)。



                          



替代傳統(tǒng)的NDT方法,層去除已經(jīng)過(guò)時(shí)
渦流陣列具有透過(guò)導(dǎo)電材料上的薄涂層進(jìn)行檢測(cè)的特別性能。與現(xiàn)有的檢測(cè)方式相比,如:滲透、磁粉或磁光成像(MOI)檢測(cè),這個(gè)性能具有很大的優(yōu)勢(shì),因?yàn)槭∪チ藱z測(cè)前去除漆層或鍍層,檢測(cè)后再重新涂上漆層或鍍層的步驟。這種檢測(cè)方式可以為用戶節(jié)省大量的成本,而且重要的是不使用化學(xué)制劑進(jìn)行檢測(cè)。


渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。

根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。

標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形。

用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。

用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。

用于表面裂痕檢測(cè)的式探頭。



ECT模式下的OmniScan MX儀器,一款性能強(qiáng)大的探傷儀綜合使用ECA和ECT技術(shù)

某些檢測(cè)程序可能特別要求使用ECT技術(shù),但ECA技術(shù)在這些應(yīng)用中又有助于用戶節(jié)省時(shí)間并方便地找到缺陷區(qū)域。使用了OmniScan MX ECA,用戶就無(wú)需在檢測(cè)開(kāi)始只使用一種技術(shù)。在檢測(cè)過(guò)程中,用戶可以隨時(shí)按住菜單鍵,即刻在ECA和ECT模式之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換。儀器可以與兩種探頭保持連接,而且它們的配置設(shè)置可以持續(xù)處于激活狀態(tài)。

連接


 技術(shù)規(guī)格

渦流模塊的技術(shù)規(guī)格

外型尺寸 (寬 x  x 厚)

244毫米 x 182毫米 x 57毫米 9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸)

 

重量

1.2公斤(2.6磅)

 

接口

1個(gè)OmniScan®渦流陣列探頭接口 

1個(gè)19Fischer®渦流探頭接口 

1個(gè)BNC接口

 

通道數(shù)量

32個(gè)通道,帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 

64個(gè)通道,帶外置多路轉(zhuǎn)換器

 

探頭識(shí)別

自動(dòng)探頭識(shí)別和設(shè)置

發(fā)生器

發(fā)生器數(shù)量

1個(gè)(帶內(nèi)置電子參考)

 

*大電壓

12 Vp-p,10 Ω

 

工作頻率

20 Hz6 MHz

 

帶寬

8 Hz5 kHz(單線圈中)。同時(shí)隙成反比例關(guān)系,并通過(guò)儀器在多路模式下設(shè)定。

接收器

接收器數(shù)量

1個(gè)~4個(gè)

 

*大輸入信號(hào)

1 Vp-p

 

增益

28 dB68 dB

內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器

發(fā)生器數(shù)量

32個(gè)(8?jìng)€(gè)時(shí)隙時(shí),4個(gè)發(fā)生器同時(shí)工作;使用外部多路轉(zhuǎn)換器時(shí),多達(dá)64個(gè))

 

*大電壓

12 Vp-p,50 Ω

 

接收器數(shù)量

4個(gè)差分接收器(每個(gè)8時(shí)隙)

 

*大輸入信號(hào)

1 Vp-p

數(shù)據(jù)采集

數(shù)字化頻率

40 MHz

 

采集速率

1 Hz15 kHz(單線圈中)。 速率可由儀器處理能力限制,或通過(guò)多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。

 

/D分辨率

16比特



應(yīng)用


應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂解決方案
Olympus為用戶提供一系列有效的解決方案,對(duì)會(huì)使材料表面開(kāi)裂的應(yīng)力腐蝕裂縫進(jìn)行探測(cè)或?qū)α芽p的深度進(jìn)行評(píng)估。

這些解決方案要使用性能強(qiáng)大、使用方便的OmniScan MX ECA渦流陣列探傷儀來(lái)完成。

檢測(cè)蒙皮疊邊中裂紋的解決方案

用于探測(cè)蒙皮疊邊中裂紋的檢測(cè)方案利用*的ECA技術(shù)探測(cè)材料表面以下的缺陷。

C掃描的應(yīng)用可保證更高的探出率及更好的再現(xiàn)性。在減少檢測(cè)時(shí)間方面,這個(gè)解決方案可謂是一個(gè)巨大的進(jìn)步。

ECA表面裂縫探測(cè)

表面裂縫ECA解決方案建議用戶使用在人體工程學(xué)方面得到完善的SBBR-026高分辨率ECA探頭類型。

這個(gè)解決方案即使在材料涂有漆層及薄鍍層的情況下,也可以很快的速度探測(cè)到會(huì)使材料表面開(kāi)裂的裂縫。

這個(gè)方案特別適用于對(duì)飛機(jī)上的成排緊固件進(jìn)行快速檢測(cè)。

ECA近表面裂縫探測(cè)

近表面裂縫ECA檢測(cè)解決方案可以在無(wú)需去除漆層的情況下掃查飛機(jī)的層(蒙皮),

以探測(cè)到第二層蒙皮上的開(kāi)裂情況。兩種ECA探頭類型(商用飛機(jī)和飛機(jī))都可以使用這種解決方案。

這兩種探頭在一次掃查中都可以覆蓋至少64毫米長(zhǎng)度。

ECA近表面腐蝕探測(cè)

近表面腐蝕ECA檢測(cè)解決方案可以對(duì)大面積區(qū)域進(jìn)行快速檢測(cè),以發(fā)現(xiàn)潛在的腐蝕情況。

兩種探頭類型(商用飛機(jī)和飛機(jī))都可以使用這個(gè)解決方案。

這個(gè)解決方案可以在無(wú)需去除漆層的情況下,即刻評(píng)價(jià)隱藏腐蝕缺陷的嚴(yán)重程度(缺陷深度)。




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