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激光干涉儀

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產(chǎn)品型號GPI

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更新時間：2022-09-14 16:10:11瀏覽次數(shù)：288次

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上海浦量元精密機電有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：52條

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聯(lián)系人：Sindy Lee(量具部); Nicole Zhu(儀器部)

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產(chǎn)品簡介

GPI激光干涉儀可應(yīng)用于：平面和球面的面形檢測;平面楔角測量、直角棱鏡的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光學材料均勻性測量;GPI激光干涉儀可應(yīng)用于角錐角度和面形偏差測量 ;精密盤片質(zhì)量檢驗 ;三平板優(yōu)良測量 ;雙球面優(yōu)良測量 ;靜態(tài)干涉條紋判斷 ;澤尼克多項式分析 ;球面曲率半徑測量

詳細介紹

GPI™系列

GPI™XP/D-ZYGO激光干涉儀的國產(chǎn)化之路

為了回報廣大中國客戶對ZYGO激光干涉儀產(chǎn)品的厚愛，ZYGO公司將其應(yīng)用*廣泛、技術(shù)*成熟的經(jīng)典產(chǎn)品--GPI™ XP/D型號激光干涉儀在中國進行組裝生產(chǎn)。

GPI™ XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測量和分析。

GPI™ XP/D是ZYGO在中國甚至*高的一款激光干涉儀，廣泛應(yīng)用于科研教學和生產(chǎn)檢測中。GPI™ XP/D主機為Fizeau型干涉儀，測量精度高且操作簡單，采用精密移相技術(shù)和高分辨率CCD接收器件640Х480（可以升級為1024×1024），配合功能強大的MetroPro®軟件可以獲得高重復(fù)性和高精度的測量結(jié)果，其三平板優(yōu)良測量重復(fù)性優(yōu)于λ/300，rms重復(fù)性優(yōu) 于λ/10,000。并能模擬樣品表面面形，并顯示鮮明的，可旋轉(zhuǎn)的3D彩**像，可選的剖面圖以及各種統(tǒng)計數(shù)字結(jié)果等。同時，針對特殊的樣品、特殊的測量需求，可以為用戶設(shè)計定制特殊的測量系統(tǒng)，結(jié)合MetroPro®軟件，為用戶提供上乘的技術(shù)解決方案并獲得滿意的測量結(jié)果。