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更新時(shí)間:2024-06-03 09:45:02瀏覽次數(shù):92次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 環(huán)保在線美國OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測試測量系統(tǒng)提供了自動(dòng)化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量
美國OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測試測量系統(tǒng)提供了自動(dòng)化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個(gè)光學(xué)測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲,評(píng)估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復(fù)雜的測試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。 該系統(tǒng)在寬帶測量方面是無二的,它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高,且無需附加額外的測試設(shè)備。這臺(tái)無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴(kuò)展到不同的輸入波段,并用于低相對(duì)強(qiáng)度噪聲測量。
特點(diǎn): ▪ 超低相位/頻率噪聲測量 ▪ 快速實(shí)時(shí)測量 ▪ 即刻和擴(kuò)展的FWHM線寬分析 ▪ 不需要低噪聲參考光源 ▪ 用戶友好界面 ▪ 簡單的基于PC的操作 ▪ 3U x 19英寸機(jī)架系統(tǒng) ▪ 可定制的配置、升級(jí)和選項(xiàng)
可選擇的配置: ▪ 在630 nm - 2200 nm范圍內(nèi)多個(gè)輸入波段 ▪ 超低噪聲基底 ▪ 相對(duì)強(qiáng)度噪聲測量 ▪ 擴(kuò)展的偏移頻率范圍可達(dá)2 GHz ▪ 擴(kuò)展的輸入功率范圍 ▪ 遠(yuǎn)程操作 ▪ 性能和頻率 ▪ 定制范圍選擇和升級(jí) |
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