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X-4、X-4A 顯微熔點(diǎn)儀

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產(chǎn)品簡介

適用范圍測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)

詳細(xì)介紹

適用范圍

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。

產(chǎn)品介紹

熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃

測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）

光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X

X-4A 顯微熔點(diǎn)儀特點(diǎn)：
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示最小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×