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更新時間：2022-09-09 14:40:39瀏覽次數(shù)：178次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線無以倫比的控制和性能，具有固有的位移控制，位移范圍從
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的**成像能力，可以在成像的同時進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker *的電容傳感技術(shù)，繼承了**市場的**批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計允許*大的樣品臺傾斜，以及測試時成像的*小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：
Hysitron PI 89利用布魯克的亞納米尺度傳感器和壓電力驅(qū)動結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)真正的位移控制和載荷控制測試：
Hysitron PI 89獲得的原位力學(xué)測試結(jié)果與SEM成像同步且并列顯示。這使得用戶能觀察到缺陷、應(yīng)變、熱/電刺激對于工程材料性能、壽命和耐久性從納米到微米尺度的影響。這種同步實(shí)現(xiàn)更多的分析：
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