德國T&S TS-X 輪廓測試儀 TS-X 輪廓測試儀X軸承載工件，Z軸進(jìn)行輪廓掃描，數(shù)據(jù)采集和控制都基于*的數(shù)字技術(shù)。機(jī)械基礎(chǔ)是很高質(zhì)量的花崗巖，使用精的基本元素不需要我們的系統(tǒng)的后續(xù)和復(fù)雜的錯誤補(bǔ)償。 ......

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TS-X 輪廓測試儀，X軸承載工件，Z軸進(jìn)行輪廓掃描，數(shù)據(jù)采集和控制都基于*的數(shù)字技術(shù)。機(jī)械基礎(chǔ)是很高質(zhì)量的花崗巖使用精的基本元素不需要我們的系統(tǒng)的后續(xù)和復(fù)雜的錯誤補(bǔ)償。穩(wěn)定性好，使用壽命長。

德國T&S TS-X 輪廓測試儀產(chǎn)品簡介：

TS輪廓測量儀

GS / GM-X輪廓測量儀

TS-X輪廓測量儀

CV120輪廓測量儀

CV300輪廓測量儀

產(chǎn)品線：

對中夾具 UZ系列

外圓對中夾具 AZ系列

對中水平放置臺 KZT系列

對中夾具 ZS系列

綜合支架 WSE系列

角度調(diào)整卡 WSF系列

棱柱支撐 WP/WPS系列

德國T&S TS-X輪廓測試儀：

.X軸和z軸無摩擦的空氣軸承

.測量范圍(280 x 350 m)

.混合陶瓷測點

.X方向的靜態(tài)探測和測量數(shù)據(jù)記錄

.粗糙度檢測模塊是標(biāo)準(zhǔn)供貨的一部分

.承載能力25 kg(可選很大50kg

.Y軸調(diào)整臺可手動和馬達(dá)自動調(diào)節(jié)

.非接觸式增強(qiáng)型線性光柵尺

.測量系統(tǒng)分辨率1納米

·性價比高

.誤差很限:±(0.85 +L / 100) um[L以毫米為單位的測量路徑](不改變掃描方向)

.在整個測量范圍內(nèi)都可以進(jìn)行輪廓和粗糙度測量

.故障限制: ± (0.9 + L/100) μm [L = 測量路徑 (毫米) (共質(zhì) TS)

.故障限制: ± (0.85 + L/100) μm [L = 測量路徑 (毫米) (Contuatic TS-X)

.軟件要求: ConturoMatic: W10/ 64Bit可選W7 / 64Bit

德國T&S TS-X粗糙度測量:

.表面粗糙度的測量

(參考表面測量的機(jī)械原理)

.測量粗糙度范圍:280 x350毫米

·有效分辨率:1 nm

·測量速度:0.1-0.5毫米/秒

.測量力:7.5 mN(可變調(diào)節(jié))

.測量點距離:約0.5微米

·適合粗糙度:Rz> 0.5um, Ra> 0.05um

·精度:5%

德國T&S輪廓測試儀TS-X.png

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儀器參數(shù)Technical data

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