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歐美克 Topsizer激光粒度分析儀

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更新時(shí)間:2022-10-22 17:25:25瀏覽次數(shù):112次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀 Topsizer激光粒度分析儀既可測(cè)量須在液體中分散的樣品,也可測(cè)量須在氣體中分散的粉體材料。是廣受客戶贊譽(yù)的國(guó)產(chǎn)高性能干濕法激光粒度儀。 ......

詳細(xì)介紹

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儀器詳情Particulars
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Topsizer激光粒度分析儀既可測(cè)量須在液體中分散的樣品,也可測(cè)量須在氣體中分散的粉體材料。是廣受客戶贊譽(yù)的國(guó)產(chǎn)高性能干濕法激光粒度儀。


歐美克 Topsizer激光粒度分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

Topsizer激光粒度分析儀是一款高性能激光粒度分析儀。它具有量程寬、重復(fù)性好、精度高、測(cè)試結(jié)果真實(shí)、自動(dòng)化程度高等諸多優(yōu)點(diǎn),是廣受客戶贊譽(yù)的國(guó)產(chǎn)高性能干濕法激光粒度儀。

用途:

既可測(cè)量須在液體中分散的樣品,也可測(cè)量須在氣體中分散的粉體材料。


歐美克 Topsizer激光粒度分析儀工作原理:

利用顆粒對(duì)光的散射現(xiàn)象,根據(jù)散射光能的分布推算被測(cè)顆粒的粒度分布。通過對(duì)光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化,使歐美克激光粒度儀具備重現(xiàn)性良好、分辨能力高、動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍寬廣、操作簡(jiǎn)單方便等優(yōu)點(diǎn)。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀光學(xué)系統(tǒng)


雙光源技術(shù)


Topsizer激光粒度分析儀-1.jpg

Topsizer激光粒度分析儀采用紅藍(lán)雙光源設(shè)計(jì),紅光主光源為進(jìn)口氦-氖激光器,波長(zhǎng)0.6328μm,并有藍(lán)光輔助半導(dǎo)體光源,波長(zhǎng)0.466μm,彌補(bǔ)了常規(guī)設(shè)計(jì)散射光角度的盲區(qū),很大地提高了對(duì)納米級(jí)顆粒及少量大顆粒的分辨力。


穩(wěn)定的激光光源

進(jìn)口主光源預(yù)熱時(shí)間短,輸出單模偏振激光偏振比達(dá)500:1以上,光束中TEM00模占比達(dá)95%以上,且激光功率始終穩(wěn)定,功率波動(dòng)小于0.5%,使得儀器的背景很低而且穩(wěn)定,大大提高了系統(tǒng)對(duì)有效信號(hào)的分辨能力。


直線光路設(shè)計(jì)

Topsizer激光粒度分析儀光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設(shè)計(jì),無多余反射光學(xué)部件造成的雜散光,亦無粉塵污染干擾,同時(shí)采用高精度全鋁合金光學(xué)平臺(tái),確保光路穩(wěn)固可靠。

后傅立葉變換單鏡頭設(shè)計(jì)

單鏡頭設(shè)計(jì),采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu),突破了傅立葉透鏡的光瞳制約,使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射雜散光干擾被減少,可以進(jìn)一步降低儀器工作時(shí)的背景噪聲至很低水平,提高了儀器測(cè)量時(shí)的信噪比。


長(zhǎng)焦距的傅里葉透鏡

Topsizer激光粒度分析儀選用具有長(zhǎng)焦距的傅立葉透鏡,這樣增加了測(cè)量窗口到光電探測(cè)器平面的距離(也就是有效焦距),從而使光電探測(cè)器能夠準(zhǔn)確探測(cè)到更小散射角度的散射光信號(hào),大大增強(qiáng)了儀器對(duì)大顆粒的測(cè)試能力,儀器的測(cè)量上限達(dá)2000μm。


合理分布、高感光度的進(jìn)口光電探測(cè)器

Topsizer激光粒度分析儀光電探測(cè)器為特殊定制的進(jìn)口光電探測(cè)器,確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測(cè)通道數(shù)多達(dá)98個(gè),由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測(cè)器組成三維立體檢測(cè)系統(tǒng),探測(cè)角范圍達(dá)到0.016-140度。結(jié)合藍(lán)光散射信號(hào),實(shí)現(xiàn)了空間全角度范圍散射光能信號(hào)的無縫接收,有效保證顆粒散射光能信息的準(zhǔn)確獲取。


智能自動(dòng)對(duì)中

智能軟件控制自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)保證了準(zhǔn)確的光學(xué)對(duì)中。智能判斷自動(dòng)對(duì)中既可作為自動(dòng)測(cè)量的一部分,亦可手動(dòng)在屏幕上單擊鼠標(biāo)來完成。智能自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)保證了多次測(cè)量的重現(xiàn)性。


歐美克 Topsizer激光粒度分析儀高性能分散進(jìn)樣系統(tǒng)

濕法進(jìn)樣系統(tǒng):

標(biāo)配SCF-108A循環(huán)進(jìn)樣器,采用的燈籠頭下壓式水流循環(huán)回路設(shè)計(jì),配備大功率準(zhǔn)確自動(dòng)控制攪拌電機(jī),可達(dá)3500轉(zhuǎn)/分鐘的同時(shí)減少了氣泡和液體飛濺的產(chǎn)生,并具有效率高的分散、清洗、排干能力。內(nèi)置功率50W的效率高的管路超聲裝置,超聲強(qiáng)度無級(jí)連續(xù)可調(diào)。標(biāo)配1000毫升樣品池,可根據(jù)客戶需求更換容量。

可選SCF-105B全自動(dòng)循環(huán)進(jìn)樣器,除加樣外的粒度測(cè)試操作均可自動(dòng)控制完成。進(jìn)樣池采用316L不銹鋼,配置效率50W底部超聲及速度可達(dá)4000轉(zhuǎn)/分鐘的精密攪拌裝置,均無及連續(xù)可調(diào)。

根據(jù)需要可選更多不同特性(例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等)的濕法進(jìn)樣器。

干法進(jìn)樣系統(tǒng):

標(biāo)配DPF-110自動(dòng)干法進(jìn)樣器,分散氣壓0.05-0.6MPa無級(jí)可調(diào),三重可調(diào)下料機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì),配備壓電陶瓷精密振動(dòng)控制單元及剛玉瓷分散管,可適應(yīng)于各種樣品及分散強(qiáng)度的測(cè)試要求。內(nèi)置分散壓傳感器和負(fù)壓傳感器,測(cè)試條件可追溯。測(cè)試窗口全密閉,具有負(fù)壓保護(hù)裝置,可有效防止窗口和主機(jī)的污染。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀功能強(qiáng)大的分析軟件

軟件設(shè)計(jì)模塊化,儀器狀態(tài)可視化,操作界面人性化,流程界面清晰明了,擁有導(dǎo)航功能

儀器具備智能化自動(dòng)化操作。能夠自檢和自動(dòng)識(shí)別進(jìn)樣系統(tǒng);每次測(cè)量前能自動(dòng)測(cè)量電背景,有效減少電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。配置自動(dòng)化進(jìn)樣器可以進(jìn)行全自動(dòng)干濕法粒度測(cè)試,手動(dòng)測(cè)樣亦有清晰的導(dǎo)航測(cè)試功能。

Topsizer激光粒度分析儀-2.jpg

完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù),具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)

Topsizer激光粒度分析儀-3.png

具備SOP標(biāo)準(zhǔn)操作流程,減少人為因素的影響,使分析測(cè)試流程標(biāo)準(zhǔn)化


SOP測(cè)量控制界面:

Topsizer激光粒度分析儀-4.png

多種數(shù)據(jù)分析模型,滿足不同特性樣品的測(cè)試需要


Topsizer激光粒度分析儀-5.png

體積分布、表面積分布、長(zhǎng)度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換


歐美克 Topsizer激光粒度分析儀良好的測(cè)試性能

寬廣的測(cè)量范圍

Topsizer的實(shí)測(cè)范圍為0.02-2000um,從亞微米顆粒到毫米級(jí)顆粒均可一次性實(shí)現(xiàn)檢測(cè),能滿足粉體行業(yè)對(duì)顆粒粒度檢測(cè)與控制的各種需求。

寬分布樣品

對(duì)大顆粒具有強(qiáng)大測(cè)試性能

毫米級(jí)玻璃微珠

對(duì)納米、亞微米等超細(xì)顆粒具備良好識(shí)別能力

杰出的分辨能力

Topsizer能夠準(zhǔn)確測(cè)定樣品中顆粒分布的微小變化,準(zhǔn)確反映樣品的實(shí)際粒度分布,能夠滿足技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。

快速的測(cè)試速度

Topsizer快速的分散系統(tǒng)為儀器的快速測(cè)試提供了良好前提,使常規(guī)的測(cè)試能在10秒內(nèi)快速完成,大幅提升了測(cè)試的效率,更好的滿足了用戶的需求。

高靈敏度

多達(dá)98個(gè)光電探測(cè)通道,由雙光源及前向、側(cè)向、大角度、后向光電探測(cè)器組成三維立體無盲區(qū)檢測(cè)系統(tǒng),大探測(cè)角度可達(dá)140度。每次測(cè)試之前,軟件自動(dòng)檢測(cè)信噪度,使儀器對(duì)大小顆粒的微小變化有著很高的靈敏度。

良好適應(yīng)性

可選具有強(qiáng)分散能力分散系統(tǒng),即使對(duì)于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀,從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測(cè)試的需要。

Topsizer激光粒度分析儀-7.png



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儀器參數(shù)Technical data
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歐美克 Topsizer激光粒度分析儀技術(shù)指標(biāo)

1.測(cè)量范圍:0.02-2000μm(濕法),0.1-2000μm(干法)

2.測(cè)量原理:全量程米氏散射理論

3.重復(fù)性:≤0.5%(標(biāo)樣D50偏差)

4.準(zhǔn)確性:≤±0.6%(標(biāo)樣D50偏差)

5.測(cè)量速度:常規(guī)測(cè)量10秒內(nèi)完成

6.進(jìn)樣方式:

濕法自動(dòng)化測(cè)試,標(biāo)配進(jìn)樣器均采用帶進(jìn)口電機(jī)的大功率精密離心泵,攪拌速度可達(dá)4000轉(zhuǎn)/分鐘,內(nèi)置超聲,均為無級(jí)連續(xù)可調(diào)。(配SCF-105B時(shí));

干法自動(dòng)化測(cè)試,分散粒度范圍:0.1-2000μm,進(jìn)樣器分散工作壓力:0.05-0.6MPa無級(jí)連續(xù)可調(diào),壓電陶瓷晶體振動(dòng)進(jìn)樣速度 無級(jí)連續(xù)可調(diào)。

7.光路系統(tǒng):雙光源直線光路設(shè)計(jì),采用進(jìn)口氦-氖激光器,波長(zhǎng)0.6328微米;并有半導(dǎo)體藍(lán)光光源,波長(zhǎng)0.466微米;

激光功率始終穩(wěn)定,功率波動(dòng)小于0.5%;

儀器設(shè)計(jì)符合國(guó)際激光安全規(guī)范,具備激光束自動(dòng)防護(hù)功能;

采用一體式高精度全鋁合金光學(xué)平臺(tái),長(zhǎng)期穩(wěn)固可靠,探測(cè)器自動(dòng)對(duì)中;

單鏡頭設(shè)計(jì),采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu);光路系統(tǒng)全封閉,有效解決粉塵污染問題。

8.檢測(cè)器:探測(cè)通道數(shù)98個(gè),由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測(cè)器組成三維立體檢測(cè)系統(tǒng),主光源探測(cè)角范圍0.016-140度,整體無盲區(qū)。

9.軟件功能:軟件設(shè)計(jì)模塊化,儀器狀態(tài)可視化,操作界面人性化;

具備SOP標(biāo)準(zhǔn)操作流程功能;

多種數(shù)據(jù)分析模型,滿足不同特性樣品的測(cè)試需要;

有導(dǎo)航功能的清晰、明了的流程界面;

具備人工智能,儀器具備自檢功能,自動(dòng)識(shí)別進(jìn)樣系統(tǒng);

每次測(cè)量前能自動(dòng)測(cè)量電背景,有效消除電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;

多種方式的測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出,方便數(shù)據(jù)交流;

完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù),具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù);

體積分布、表面積分布、長(zhǎng)度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換;

具有兼容GMP附件《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案,具備用戶分級(jí)、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。

10.外觀尺寸

主 機(jī): 1330×266×380mm

循環(huán)進(jìn)樣器:240×380×370mm(SCF-108A),210×260×345mm(SCF-105B)

干法進(jìn)樣器:305×245×295mm(DPF-110)



如需了解更多 歐美克 Topsizer激光粒度分析儀 技術(shù)參數(shù)或有任何疑問,請(qǐng)聯(lián)系中科匯儀網(wǎng)工作人員。
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