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Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

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產品型號572

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更新時間：2023-08-31 13:05:34瀏覽次數(shù)：140次

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產品簡介

Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

詳細介紹

一直以來，Helios NanoLab™ DualBeam™ 都綜合采用了電子和離子光學系統(tǒng)、配件和軟件，能夠納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家，Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界，為材料研究開辟新的天地。

借助亞納米SEM 成像技術S/TEM 超薄樣本制備能力，科學家能夠將Helios NanoLab 當作理想的研究伴侶，為未來的科技進步開發(fā)創(chuàng)新的新材料和納米量級器件。

Helios NanoLab 的材料科學應用

在材料科學領域，研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設備的質量。為了實現(xiàn)技術進步，在納米量級了解結構和成分細節(jié)至關重要。Helios NanoLab 設計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察，讓研究人員能夠觀測樣本微小的細節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率S/TEM 成像迅速制備高質量的樣本。此外，如果研究工作包括開發(fā)MEMS 或NEMS 器件，也可配備Helios NanoLab 打造全功能原型。

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