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硬度計測試儀

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產(chǎn)品型號Equotip 550 Leeb

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更新時間：2024-02-28 14:21:54瀏覽次數(shù)：110次

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產(chǎn)品簡介

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。Equotip 550 Leeb硬度計測試儀每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準確的硬度測試塊，，用于定期驗證......

詳細介紹

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀是便攜式硬度檢測功能齊全的體化解決方案。里氏硬度原理基于動態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。

結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。這將能夠在現(xiàn)場自動將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。

新代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專精心設(shè)計的界面，提高了檢測效率和改良用戶體驗。改進的軟件可提供互動向?qū)?、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測量和對已測得數(shù)據(jù)進行分析。特殊設(shè)計的外殼適于惡劣的現(xiàn)場使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認可的測量技術(shù)和行業(yè)標準。 Equotip 裝置滿足眾多行業(yè)對無損硬度檢測的要求。

Equotip Leeb

根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）
測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準確的硬度測試塊，，用于定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

模塊化概念：利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法：在現(xiàn)場自動將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值
引導向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強進程可靠性和提高測量準確度
自動驗證：根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
互動指南：通過屏幕通知為您的應(yīng)用獲取相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線：直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗證轉(zhuǎn)換曲線
自定義報告：模塊化報告處理器允許自定義測量報告
自動選項：將 NDT 自動操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動檢測環(huán)境
外殼經(jīng)過特殊設(shè)計，可用于嚴苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時長 > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實現(xiàn)未來保護投資

里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
合適用于材料挑選、驗收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測
合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場檢測
方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供些附件，例如個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結(jié)構(gòu)上進行手動硬度測量

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀標準

ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859（即將發(fā)布）
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀準則

ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀:
顯示屏	7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內(nèi)存	內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲多達 1000000 個測量值）
區(qū)域設(shè)置	公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū)
電池	鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長	> 8h（標準操作模式下）
電源輸入	12 V +/-25 % / 1.5 A
重量（顯示裝置）	大約 1525 g（含電池）
尺寸	250 x 162 x 62 mm
高海拔	2500 m 海拔高度
濕度	< 95?%RH，非冷凝
操作溫度	0°C 至 30°C（32 至 86°F）（正在充電且儀器正在運行） 0°C 至 40°C（32 至 104°F）（正在充電且儀器關(guān)閉） -10°C 至 50°C（14 至 122°F）（未充電）
環(huán)境	適合室內(nèi)與室外使用
IP 等	IP 54
污染等	2
安裝類別	2
Equotip Leeb 沖擊裝置:
測量范圍	1-999 HL
測量精度	± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %）
分辨率	1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； 0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
沖擊方向	自動補償（DL 探頭除外）
沖擊能量	D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm
沖擊體質(zhì)量	D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭	C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸） G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度	–10?C 至 50?C（14 至 122°F）