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北京卓立漢光儀器有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間:2024-04-08 10:25:49瀏覽次數(shù):129次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)近年發(fā)展的遠(yuǎn)程拉曼光譜探測(cè)技術(shù),是根據(jù)拉曼散射效應(yīng)遠(yuǎn)距離探測(cè)物質(zhì)的技術(shù),通過(guò)技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用的拓展,目前已在行星、礦物勘測(cè)、遠(yuǎn)程爆炸物探測(cè)、化學(xué)物質(zhì)泄漏和污染物測(cè)量等方面有很高的應(yīng)用價(jià)值。國(guó)際目前常用的程拉曼探測(cè)系由以下部分組成:激發(fā)光源、光路收集模塊、分光模塊、探測(cè)模塊、數(shù)據(jù)采集與分析模塊。
激發(fā)波長(zhǎng) | 405, 514, 532, 633, 670, 671, 785, 808 nm. 其他可選 |
光譜范圍 | 100-4000 cm-1 ( 不同激光器范圍不同 ) |
焦距 | 20 mm to 100 mm |
樣品端光斑大小 | ~100 um @ 100 um 芯徑激發(fā)光纖 |
工作距離 | 20 ~100 mm |
數(shù)值孔徑 | 0.22 @40 mm 焦距 |
探頭尺寸 | 2.25" L x 0.96" W x 0.58" H |
探頭材質(zhì) | 超硬氧化鋁或者 316 不銹鋼 |
探頭柄尺寸 | 1.125” 直徑 x 3.8” 長(zhǎng)度 |
探頭柄材質(zhì) | 316 不銹鋼 |
濾光片效率 | O.D >6 |
操作溫度 | 0-85 ? C |
操作壓力 | 15 psi |
光纖配置 | 100/100 um 標(biāo)準(zhǔn)配置,其他可選 |
接口類(lèi)型 | FC 或者 SMA |
其他 | 可定制 |
望遠(yuǎn)鏡
激發(fā)波長(zhǎng) | 532nm,785nm,其他可定制 |
光譜范圍 | 200-4000 cm-1 ( 不同激光器范圍不同 ) |
焦距 | 1000mm 標(biāo)配,其他可選 |
樣品端光斑大小 | ~100 um @ 100 um 芯徑激發(fā)光纖 |
激光器接口 | FC/APC |
光譜儀接口 | SMA |
激光器
激光器 | 脈沖激光器 | 光纖激光器 |
激發(fā)波長(zhǎng) | 532nm | 532nm |
脈沖能量 / 功率 | 290mJ | 100mW |
重復(fù)頻率 | 10Hz | CW |
線(xiàn)寬 | < 0.005 cm-1 | < 0.00001nm |
光譜儀
類(lèi)型 | C-T 式影像 校正光譜儀 | VPH 光譜儀 |
焦距 | 320mm 焦距 | 85mm 焦距 |
通光孔徑 | F/4.2 | F/1.8 |
光譜范圍 | 200-1100nm | 532-680nm |
光譜分辨率 | 優(yōu)于 2cm-1 @1800 刻線(xiàn)光柵 | 5cm-1 @1800 刻線(xiàn)光柵 |
探測(cè)器
類(lèi)型 | ICCD | CCD |
有效像素 | 1024*1024 | 2000 x 256 |
像元尺寸 | 13um*13um | 15 x 15 µm |
有效探測(cè)面尺寸 (18mm MCP) | 13.3mm*13.3mm |
|
最短光學(xué)門(mén)寬 | < 2ns | 無(wú) |
讀出噪聲 | 5 e- | 4.5 e- |
門(mén)控 | 2ns | 無(wú) |
響應(yīng)范圍 | 280 – 810nm | 200-1100nm |
典型應(yīng)用
行星探測(cè)萬(wàn)雄老師設(shè)計(jì)了一款激光誘導(dǎo)擊穿光譜LIBS+ 拉曼系統(tǒng)在火星模擬環(huán)境下礦物樣品的綜合檢測(cè)能力,采用卡塞格林望遠(yuǎn)鏡結(jié)構(gòu),遠(yuǎn)程脈沖拉曼光譜激發(fā),成功檢測(cè)了8 種典型礦物質(zhì)(孔雀石、藍(lán)銅礦、雄黃、文石、方解石、硬石膏和石膏等),實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)可以在火星條件下有效分析礦物種類(lèi)和成分。
放射性核污染物檢測(cè)
礦物勘探
遠(yuǎn)程拉曼光譜探測(cè)技術(shù)在礦物與有機(jī)質(zhì)分析方面的能力,使得這一技術(shù)非常適用于行星表面探測(cè)等任務(wù)中。
材料生長(zhǎng)原位監(jiān)測(cè)
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