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EXPLORER 多功能X射線衍射儀

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更新時(shí)間：2023-07-31 16:40:05瀏覽次數(shù)：177次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹INTRODUCTIONEXPLORER在幾乎所有的分析領(lǐng)域都有著出色的性能，例如可以測(cè)量混合物質(zhì)的相態(tài)；可以檢測(cè)微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹INTRODUCTION

EXPLORER 在幾乎所有的分析領(lǐng)域都有著出色的性能，例如可以測(cè)量混合物質(zhì)的相態(tài)；可以檢測(cè)微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其模塊化設(shè)計(jì)，更是為儀器提供了廣闊的升級(jí)空間，通過升級(jí)儀器可以滿足新的分析需求。

特點(diǎn)FEATURES

直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)勢(shì)的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度
全部組件可以拆分為7個(gè)模塊，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品，適用于全部的粉末、薄膜和塊狀樣品
可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算
可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析
光學(xué)系統(tǒng)可以在Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或拋面鏡單色器自由切換
高分辨的反射技術(shù)，讓檢測(cè)厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治?/li>
將拋面鏡單色器與晶體開槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度、低散射適合高分辨率測(cè)量的平行單色光
強(qiáng)大，簡(jiǎn)便的操作軟件實(shí)測(cè)檢測(cè)工作更加簡(jiǎn)單，軟件同時(shí)具有許多*的功能，可以幫助用戶對(duì)復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析