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丞普諾儀器（蘇州）有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時間：2022-09-26 15:33:17瀏覽次數(shù)：134次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線日立膜厚儀器產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號XTU-A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍CI（17）-U（92）分析軟件同時分析23個鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準直器φ0
| 品牌 | 一六儀器 | 型號 | XTU-A |
| 類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺移動范圍 | 50mm*50mm |
| XY軸工作臺承重 | 5KG | 測量元素范圍 | CI（17）-U（92） |
| 不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | CI（17）-U（92） |
| 分析軟件 | 同時分析23個鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
| 準直器 | φ0.5mm、φ0.2mm兩準直器任選一種 | 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異行物品，變焦距離可達0-30mm |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 | 樣品臺移動 | 手動無滑軌 |
| 其他附件 | 電腦一套，噴墨打印機，附件箱，12元素片，電鍍液測量杯（選配）標準片（選配） |
丞普諾儀器（蘇州）有限公司主營產(chǎn)品有：視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設計與開發(fā)、模具保護監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。
膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可丈量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可丈量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設備，它在平時的使用中對于度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇"，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。
10、測量頭壓力
測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測量頭的取向
測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測量頭與試樣表面保持垂直。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
膜厚儀磁感應測量原理：
膜厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10。
丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認可，堅持以客戶為核心，“質(zhì)量到位、服務"的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務。
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