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HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號XploRA Nano

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更新時間：2024-02-06 15:34:26瀏覽次數(shù)：113次

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產(chǎn)品簡介

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

詳細介紹

詳細信息：
將AFM的納米量級高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來，實現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學結(jié)構(gòu)測試。

產(chǎn)品特點：
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動準直
● 可同時提供上方、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭，對環(huán)境噪聲不敏感

AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進行耦合，構(gòu)建一個功能強大且靈活的AFM-拉曼平臺。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進行快速成像或者根據(jù)針尖增強拉曼散射信號對熱點進行成像，因而該配置能夠準確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時采集每一點的SPM信號和拉曼光譜。

AFM-拉曼和針尖增強拉曼散射（TERS）

將您的所有需求集成到一個強大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合，對其進行優(yōu)化以實現(xiàn)高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學技術(shù)（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實現(xiàn)針尖增強拉曼散射（TERS）或共點測量。
結(jié)合納米成像和化學分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學、熱能、電磁場和近場光學特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學信息。
● 同步測量的平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率