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X射線光電子能譜儀- XPS

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

X射線光電子能譜儀- XPS

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品名稱：X射線光電子能譜儀- XPS
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Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜 (XPS) 系統(tǒng)升級(jí)了核心 XPS 性能，具有更快的數(shù)據(jù)采集速度、更好的檢測(cè)能力和更簡(jiǎn)單化學(xué)態(tài)分辨分析。激動(dòng)人心的新硬件功能（如 XPS SnapMap）與全新的軟件功能（如 eSP 和 KnowledgeView 功能）整合，有助于進(jìn)行能譜識(shí)別。此外還有新的選件可供選擇，包括全自動(dòng)紫外光電子能譜 (UPS)、真空傳送模塊和 Thermo Scientific™ MAGCIS™ 離子源，開啟了實(shí)驗(yàn)新契機(jī)。

本儀器設(shè)備是由Thermo Fisher 公司推出的一款高性能、高測(cè)試效用于表面分析技術(shù)一款X射線光電子能譜(XPS) 。

儀器型號(hào)：Thermo SCIENTIFIC K-Alpha，是一種分析材料表面化學(xué)的技術(shù)。

單色器：K-Alpha X射線單色器可選擇30 µm至400 µm大小的分析區(qū)域，步長(zhǎng) 5 µm。將分析區(qū)域調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，使得信號(hào)。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測(cè)器使得儀器具有高靈敏探測(cè)能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。

深度剖析：K-Alpha用標(biāo)準(zhǔn)離子源深入表面層以下進(jìn)行分析。自動(dòng)優(yōu)化源和自動(dòng)供氣確保優(yōu)良的性能和實(shí)驗(yàn)重復(fù)性。

化學(xué)態(tài)圖像：K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個(gè)樣品臺(tái)大小的大樣品圖像。的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將XPS像與儲(chǔ)存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一強(qiáng)大功能可用于識(shí)別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。

絕緣樣品分析：源采用離子和極地能量的電子，可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無需荷電校準(zhǔn)。

應(yīng)用領(lǐng)域

玻璃涂層
聚合物
電池
石墨烯
太陽能電池
OLED

金屬和氧化物
生物表面
薄膜
半導(dǎo)體
陶瓷
催化劑

K-Alpha 重要特征和優(yōu)勢(shì)

Al Kα X 射線單色器可用于化學(xué)態(tài)高分辨分析
微聚焦 X 射線探針可用于化學(xué)態(tài)成像分析
的光學(xué)觀察系統(tǒng)可用于對(duì)中樣品上微小結(jié)構(gòu)和污染點(diǎn)分析位置
聚焦深度剖析離子源可用于單層和多層膜分析
一鍵式中和系統(tǒng)可用于精確的小面積分析
128 通道探測(cè)器用于快速并行快照式采集數(shù)據(jù)

高性能 XPS 能譜

單色器和電子分析系統(tǒng)的發(fā)展使得 K-Alpha 在原來的基礎(chǔ)上能大幅提高 XPS 性能。用戶使用全新的 X 射線單色器可選擇 50 µm 至 400 µm 大小的分析區(qū)域，步長(zhǎng)為 5 µm。分析區(qū)域能調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，以獲得的信號(hào)。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測(cè)器使得儀器具有高靈敏探測(cè)能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。

絕緣樣品分析

K-Alpha 能譜儀的荷電補(bǔ)償使得儀器分析絕緣樣品就像分析非絕緣樣品一樣容易。賽默飛世爾科技的雙束中和槍采用離子和極低能量的電子（低于 1 eV），可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無需荷電校正，讓分析絕緣樣品數(shù)據(jù)同數(shù)據(jù)采集一樣簡(jiǎn)單。

XPS SnapMap

XPS SnapMap 與擁有的 K-Alpha 反射光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，能提供快速 XPS 成像，實(shí)現(xiàn)特征位置的對(duì)中和鑒定。 XPS SnapMap 能生成幾 mm2 面積的圖像，所需時(shí)間遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于生成全圖的時(shí)間，非常適合快速鑒定光學(xué)觀察無法輕易觀察到的分析區(qū)域。 XPS SnapMap 還能用在實(shí)驗(yàn)中，進(jìn)行快速定量能譜成像。

化學(xué)態(tài)成像

K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個(gè)樣品臺(tái)大小的大樣品圖像。的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將 XPS 像與儲(chǔ)存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一強(qiáng)大功能可用于識(shí)別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。