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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

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更新時(shí)間：2023-10-03 09:33:04瀏覽次數(shù)：431次

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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司

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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

詳細(xì)介紹

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

全自動(dòng)透光率/反射率分析儀

型號(hào)：Planum-3000

用途：用于各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜快速測(cè)量?？蛇M(jìn)行多角度相對(duì)/

反射率、透過(guò)率測(cè)量，偏振光測(cè)量，膜性測(cè)量。

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測(cè)量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。

操作軟件界面

平面光學(xué)元件光譜分析儀的技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)	Planum-3000（Ⅰ型）	Planum-3000（Ⅲ型）
探測(cè)器	Sony線形CCD 陣列	Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測(cè)范圍	380-1000nm	360-1100nm
波長(zhǎng)分辨率	1nm	1nm
信噪比（全信號(hào)）	250:1	1000:1
相對(duì)檢測(cè)誤差	﹤1%（400-800nm）	﹤0.2%（400-800nm）
重復(fù)定位精度	﹤0.005°
透射測(cè)量角度	0-80°（小樣品0-50°）
反射測(cè)量角度	10-80°（可擴(kuò)展到5°）
樣品尺寸	﹥Φ5mm
單次測(cè)量時(shí)間	<1ms
S/P光測(cè)量	支持
其他	可自定義打印報(bào)告格式，開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫(kù)