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博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 O系列

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更新時間：2023-02-28 15:46:48瀏覽次數(shù)：281次

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產(chǎn)品簡介

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 O系列采用毛細管光學結(jié)構(gòu)，擁有精準的測試性能，同時能實現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器，在短時間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù)，在短時間內(nèi)滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結(jié)果（準確性和重復性）。

詳細介紹

博曼O系列產(chǎn)品概述：

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 O系列采用毛細管光學結(jié)構(gòu)，擁有精準的測試性能，同時能實現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器，在短時間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù)，在短時間內(nèi)滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結(jié)果（準確性和重復性）。

該系列采用80μm毛細管光學結(jié)構(gòu)，同時配備可處理更高計數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機具有更大的放大倍數(shù)，擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個可編程的XY樣品臺也是標準配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時樣品必須平整。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 O系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 極小的樣品，如半導體，連接器或PCB

- 需要測試多個樣品的多個位置

- 需要測量非常薄的涂層（<100nm）

- 需要在短時間內(nèi)完成測量（1-5秒）

- 符合IPC-4552A

博曼O系列產(chǎn)品參數(shù)：

類別

參數(shù)

元素測量范圍：

X射線管：

探測器：

分析層數(shù)及元素數(shù)：

濾波器/準直器：

焦距：

數(shù)字脈沖器：

計算機：

相機：

電源：

重量：

可編程XY平臺：

樣品倉尺寸：

外形尺寸：

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W鉬鈀射線管 80um毛細管光學結(jié)構(gòu)

135eV及以上分辨率的硅漂移探測器

5層（4層+基材）每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素

2位置一次過濾器

固定焦距（0.1"）

4096 多通道數(shù)字處理器，自動死時間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X雙攝像頭或45X單攝像頭

150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz

53kg

平臺尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"

高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"）

高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）

關于美國博曼：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測技術和*的軟件系統(tǒng)，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金（HEAs）。

關鍵詞：鍍層測厚儀測厚儀