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EVO 15 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)EVO 15

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更新時(shí)間:2024-01-16 09:27:42瀏覽次數(shù):315次

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產(chǎn)品簡介

EVO 15 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

詳細(xì)介紹

EVO 15 燈絲掃描電子顯微鏡

 

模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用

EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起, 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué), 材料科學(xué), 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
  • 顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案
  • 不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
  • 使用LaB6燈絲,能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量
  • 對(duì)不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色
  • 可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求
 

優(yōu)勢

SmartSEM Touch

便捷的可用性

SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡單易學(xué), 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本,甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。
maximum data quality

優(yōu)異的圖像質(zhì)量

EVO 擅長于對(duì)未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài), 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí),選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對(duì)比度和信噪比。
EVO can be configured to be part of a semi-automated multi-modal workflow

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分,通過重新定位感興趣區(qū)域,并以多種方式收集數(shù)據(jù),形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn),或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián),進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。
 

適合更多用戶操作

對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶操作都很方便

在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中,SEM 的操作通常是顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。但是對(duì)于非專家級(jí)用戶來說,操作SEM就變得具有挑戰(zhàn),比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師,他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時(shí)考慮了這兩類用戶的需求,用戶界面選項(xiàng)既能滿足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專家也能滿足非專業(yè)用戶的操作需要。
專家用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM
專家用戶可以獲取以及設(shè)定高級(jí)的成像參數(shù)和分析功能。
SmartSEM: 為有經(jīng)驗(yàn)用戶使用的控制界面
SmartSEM: 為有經(jīng)驗(yàn)用戶使用的控制界面
新手用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM Touch
新手用戶可以使用預(yù)定義的工作流程和常用的一些參數(shù)-非常適合初學(xué)者。
SmartSEM Touch: 是一款在觸摸屏電腦上運(yùn)行的簡化圖形用戶界面
SmartSEM Touch: 是一款在觸摸屏電腦上運(yùn)行的簡化圖形用戶界面

智能導(dǎo)航與成像

大大提高樣品的測試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出

ZEISS Navigation Cameras

蔡司導(dǎo)航相機(jī)

相機(jī)可以安裝在倉室前方, 以監(jiān)測樣品與背散射探測器以及物鏡底端之間的相對(duì)位置(倉室相機(jī));或安裝在真空室倉門上方 (導(dǎo)航相機(jī)), 利用俯視圖查看樣品臺(tái)上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學(xué)顯微鏡圖像中識(shí)別出的預(yù)定義位置, 并在整個(gè)樣品測試過程中輕松導(dǎo)航。
Automated Intelligent Imaging

自動(dòng)化智能成像

EVO實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品批量自動(dòng)、無人值守的圖像采集。蔡司自動(dòng)化智能成像非常適合例行檢測。它使用戶能夠自定義邊界區(qū)域,自動(dòng)生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域,并開始自動(dòng)獲取圖像。自動(dòng)化智能成像將大大提高樣品的測試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

將您的研究提升一個(gè)層次

使用六硼化鑭電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像

六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢體現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:
  • 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下, 有更多探針電流可供使用, 從而使圖像導(dǎo)航和優(yōu)化更容易
  • 在相等的探針電流 (信噪比) 下, 光斑直徑要小得多, 從而提高了圖像分辨率
Tungsten
低加速電壓下高放大倍率的催化劑粒子 (左: 使用鎢燈絲, 右: 使用LaB6燈絲) 當(dāng)在具有挑戰(zhàn)性的成像條件下, 使用LaB6燈絲的用戶將有高達(dá)10倍的光束亮度, 從而提高了圖像分辨率和對(duì)比度。

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

工作流程自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處

Shuttle & Find 將EVO、光學(xué)顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個(gè)關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程
Shuttle & Find 將EVO、光學(xué)顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個(gè)關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程
  由于蔡司是各種類型顯微鏡和計(jì)量系統(tǒng)的優(yōu)秀供應(yīng)商, 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合,使其功能能夠發(fā)揮得更好。 通過使用Shuttle & Find(蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分),您可以在(數(shù)碼)光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立一個(gè)高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學(xué)顯微鏡的光學(xué)對(duì)比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合, 獲得互補(bǔ)的數(shù)據(jù), 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機(jī)理。

蔡司 SmartEDX

用于常規(guī)SEM顯微分析應(yīng)用的一體化EDS解決方案

如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品,研究人員就會(huì)借助能譜儀(EDS)來采集元素化學(xué)成份的空間分布信息。
ZEISS SmartEDX
  • 針對(duì)常規(guī)顯微分析應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化
SEM和EDS的搭配使用必須經(jīng)過謹(jǐn)慎細(xì)致的考量。EVO上的SmartEDX非常適用于常規(guī)顯微分析應(yīng)用,尤其對(duì)于數(shù)據(jù)重復(fù)性要求高的客戶而言更是理想的選擇。它在129 eV能量分辨率和1-5 nA探頭電流(典型的EVO工作條件)下具有很高的通量。得益于氮化硅窗口的優(yōu)異透過率, SmartEDX更適合于探測到來自輕元素的低能X射線。
 
Workflow-guided graphical user interface
  • 工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面
SmartEDX旨在提高多用戶環(huán)境中的易用性和工作流程重復(fù)性。與其他蔡司工作流程引導(dǎo)的軟件解決方案(如:SmartSEM Touch,ZEN core或EVO 的Shuttle&Find)一樣,SmartEDX軟件易于學(xué)習(xí),使用直觀,并有助于確保在SEM上執(zhí)行分析任務(wù)的重復(fù)性,尤其是在多個(gè)操作者使用該系統(tǒng)的環(huán)境中。
 
Total ZEISS service and system support
  • 的蔡司服務(wù)和系統(tǒng)支持 SmartEDX由蔡司提供支持,因此該EDS解決方案非常適合那些希望精簡分析設(shè)備供應(yīng)商數(shù)量的客戶。所有安裝、預(yù)防性維護(hù)、保修、診斷和維修、備件物流以及整個(gè)系統(tǒng)服務(wù)合同中的內(nèi)容均由蔡司全面負(fù)責(zé),為您的SEM分析解決方案提供一站式的的支持。
 
 

EVO 系列

真空室尺寸選擇

EVO 10 EVO 15 EVO 25
  選擇 EVO 10(可選配BSD和EDS)是您想以一個(gè)非常實(shí)惠的價(jià)格購買掃描電子顯微鏡的切入點(diǎn)。即使這個(gè)EVO真空室很小,它也不同于臺(tái)式電鏡。您現(xiàn)在在 EVO 的投資保證了您已經(jīng)為將來需要更多空間和端口的應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。   EVO 15 充分展示了 EVO 家族的靈活性概念, 并擅長于分析應(yīng)用。選擇 EVO 15 更大的真空室, 并增加對(duì)不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式, 你將有一個(gè)多功能多用途的顯微鏡設(shè)備或者工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的解決方案。 EVO25 是工業(yè)的主力解決方案, 它有足夠的空間以容納甚至更大的部件和組件??蛇x的 80 mm Z 軸行程載物臺(tái)可進(jìn)一步擴(kuò)展 EVO 25的功能, 它可以處理重量高達(dá)2公斤的樣品甚至傾斜。此外, 大的真空室將能夠容納多個(gè)分析檢測器以滿足苛刻的微量分析應(yīng)用需求。
樣品高度 100 mm 135 mm 210 mm
樣品直徑 200 mm 250 mm 300 mm
電動(dòng)載物臺(tái)行程XYZ   80 x 100 x 35 mm   125 x 125 x 50 mm 130 x 130 x 50 (或 80) mm
高真空模式 (HV) 導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析
可變壓力模式 (VP) 不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析
擴(kuò)展壓力模式 (EP) 含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像
注:設(shè)備價(jià)格根據(jù)不同型號(hào)、不同配置有所不同。
   

蔡司 EVO 應(yīng)用案例

應(yīng)用實(shí)例

  • 生產(chǎn)與裝配企業(yè)

    • 質(zhì)量分析/質(zhì)量控制
    • 失效分析/金相分析
    • 清潔度檢查
    • 顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析, 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn)
    • 非金屬夾雜物的分析
     
    鋅磷酸鹽電涂層, 高真空模式下使用 SE 探測器成像
    鋅磷酸鹽電涂層, 高真空模式下使用 SE 探測器成像
    汽車座椅墊泡沫, 可變真空模式下使用BSE探測器成像,樣品未噴涂導(dǎo)電層。
    汽車座椅墊泡沫, 可變真空模式下使用BSE探測器成像,樣品未噴涂導(dǎo)電層
    不銹鋼斷口表面, 高真空模式二次電子成像
    不銹鋼斷口表面, 高真空模式二次電子成像
     

電子半導(dǎo)體

  • 目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池
  • 銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究
  • 金屬腐蝕研究
  • 斷面失效分析
  • Wire bonding線腳檢查
  • 電容表面成像
 
Wire bond檢查,在高真空或可變真空模式下用二次電子成像
Wire bond檢查,在高真空或可變真空模式下用二次電子成像
鎳層腐蝕的二次電子成像
鎳層腐蝕的二次電子成像
二次電子圖像觀察的在電子產(chǎn)品上生長的晶須
二次電子圖像觀察的在電子產(chǎn)品上生長的晶須
 

鋼鐵和其它金屬

  • 對(duì)金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進(jìn)行成像和分析
  • 相、顆粒、焊縫和失效分析
鍍鋅低碳鋼的剖面, 使用 EVO 15 上的 二次電子探測器進(jìn)行成像
鍍鋅低碳鋼的剖面, 使用 EVO 15 上的二次電子探測器進(jìn)行成像
用F80砂礫鋁粉噴砂后的S355鋼表面
用F80砂礫鋁粉噴砂后的S355鋼表面
采用選擇性激光熔化的方法制備的鈦合金 (Ti-6Al-4V)的表面, 能夠看出充分熔化區(qū)域的旁邊有未融化的 Ti-6Al-4V 粒子和其他材料
采用選擇性激光熔化的方法制備的鈦合金 (Ti-6Al-4V)的表面, 能夠看出充分熔化區(qū)域的旁邊有未融化的 Ti-6Al-4V 粒子和其他材料
     
 

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