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天津瑞利光電科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)FAST SDD
品 牌
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更新時(shí)間:2024-05-01 10:23:45瀏覽次數(shù):83次
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產(chǎn)品介紹Amptek將硅片制造引入內(nèi)部,并改進(jìn)了工藝
Amptek將硅片制造引入內(nèi)部,并改進(jìn)了工藝。其結(jié)果是探測器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測器。
FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測器(SDD),能夠在保持分辨率的同時(shí),計(jì)數(shù)率超過1000000 CPS(每秒計(jì)數(shù))。FAST SDD還可與C系列(Si3N4)低能窗一起使用,用于軟x射線分析。
與傳統(tǒng)SDD不同,F(xiàn)AST SDD在密封的TO-8封裝內(nèi)使用結(jié)柵場效應(yīng)晶體管(JFET)和外部前置放大器,在TO-8封裝內(nèi)部使用互補(bǔ)的金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)前置放大器,并用金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管(MOSFET)代替JFET。這降低了電容,提供了更低的串聯(lián)噪聲,并在極短的峰值時(shí)間內(nèi)提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測器,但前置放大器在短峰值時(shí)間內(nèi)提供較低的噪聲。改進(jìn)的(較低的)分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線,否則峰值將重疊,從而允許用戶更好地識(shí)別其樣品中的所有元素。峰值時(shí)間短也會(huì)提高計(jì)數(shù)率;更多的計(jì)數(shù)提供更好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
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