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供應(yīng) SGGDW系列 50L高低溫試驗箱

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產(chǎn)品型號SGGDW-50

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更新時間：2023-05-09 09:27:27瀏覽次數(shù)：106次

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產(chǎn)品簡介

供應(yīng)SGGDW系列50L高低溫試驗箱產(chǎn)品用途符合溫濕度測試標準風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)

詳細介紹

供應(yīng) SGGDW系列 50L高低溫試驗箱

產(chǎn)品用途

符合溫濕度測試標準風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準確性編程系統(tǒng)，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，確定上述產(chǎn)品對高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

符合標準

1、GB10592-2008 高、低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度變化）

2、GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1:2007）試驗A：低溫試驗

3、GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1：2007）試驗 B：高溫試驗

/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-78:2001）試驗 Cab：恒定試驗

5. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-30:2005）試驗 Db：交變試驗方

6. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-4）試驗 Cb：交變濕熱試驗方

7. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC68-2-14）試驗 N：溫度變化

8. 裝備實驗室環(huán)境試驗第3部分：高溫試驗方

裝備實驗室環(huán)境試驗第3部分：低溫試驗方

24977-2010

主要技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號	工作室 W×D×H（mm）	外型W×D×H(mm）
SGGDW-50	350×320×450	820×850×1560
SGGDW-100	450×450×500	900×950×1610
SGGDW-150	500×500×600	950×1000×1710
SGGDW-225	520×630×750	1050×1050×1860
SGGDW-250	600×600×700	1100×1100×1900
SGGDW-400	600×800×850	1120×1300×1980
SGGDW-500	700×800×900	1250×1500×2010
SGGDW-800	800×1000×1000	1350×1500×2150
SGGDW-010	1000×1000×1000	1520×1500×2150
溫度范圍: 0～160℃ - 20～160℃ -40～160℃ -50～160℃ -60～160℃ -70～160℃ -80～160℃ 可按照要求選定
注：可以根據(jù)客戶要求，定制非標尺寸

主要性能參數(shù)
溫度偏差	≤±℃
溫度波動度	≤±℃
降溫時間	平均降溫速率為℃～℃/min；（空載）
升溫時間	平均升溫速率為2℃～3℃/min；（空載）
快速溫度變化試驗箱	快速降溫：3℃～5℃/min；快速升溫：3℃～5℃/min；(需要定制）