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法國phasics 波前分析儀 SID4系列

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產品型號SID4系列

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更新時間：2023-06-16 12:18:20瀏覽次數(shù)：143次

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產品簡介

法國Phasics公司的產品基于其波前測量技術，即4波橫向剪切干涉技術

詳細介紹

法國Phasics 公司的產品基于其波前測量技術，即4 波橫向剪切干涉技術。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上，這種技術將高分辨率和大動態(tài)范圍較好結合在了一起。任何應用下，其都能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。具有如下技術優(yōu)勢：

高分辨率的相位圖，高分辨率可達400ｘ300。

具有直接測量高發(fā)散光束的能力

消色差，匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準。

應用方向：

激光束質量分析

自適應光學

光學系統(tǒng)測量

生物成像

熱成像，等離子體表面物理