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光學(xué)輪廓儀NPFLEX3D

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更新時間：2022-12-21 13:55:18瀏覽次數(shù)：268次

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廣州高測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品高效的三維表面信息測量垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)快速獲取測量數(shù)據(jù)

詳細(xì)介紹

NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)

針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量
布魯克的NPFLEX^TM3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力，實現(xiàn)更快的測量時間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計的經(jīng)驗，NPFLEX^TM是個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品

創(chuàng)新性的空間設(shè)計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

高效的三維表面信息測量

每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點(diǎn)上的亞納米級別垂直分辨率
工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效

最少的樣品準(zhǔn)備時間和測量準(zhǔn)備時間
比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)

 為客戶量身訂做最合適的儀器配置  NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上，還有很多備選的配件和配置方案， 滿足不同客戶的測量需求： ?  可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。 ?  獲得研發(fā)大獎的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結(jié)合環(huán)境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測量。 ?  可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。  納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個測量點(diǎn)可以實現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。   快速獲取數(shù)據(jù)，保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設(shè)置時間