尼康CMM激光掃描測頭（新）LC15Dx
LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。

詳細(xì)介紹

LC15DX

革命性第三代激光掃描測頭
精度可媲美接觸式測頭

尼康CMM激光掃描測頭(新）LC15Dx 優(yōu)點(diǎn)

精度可媲美接觸式測頭

采用激光掃描測頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中，LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測量機(jī)和接觸式測頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測頭不同的是，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補(bǔ)償誤差。掃描測頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器，可解決激光掃描測頭在未達(dá)到工作溫度時容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。

操作輕松的多功能掃描

尼康*的 ESP3 技術(shù)可針對每個測量點(diǎn)實時智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無需用戶干預(yù)、手動調(diào)節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射，而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光。

更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測水準(zhǔn)

全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個部件可與 CAD 模型進(jìn)行對比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動生成或簡易或詳細(xì)的測量報告。

軟件

適合各類應(yīng)用的直觀軟件

LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi)，適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。

重要功能包括：

• CAD 編程                     • 多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)
• zui佳擬合                    • 離線編程
• 部件與 CAD 對比       • 點(diǎn)云測量
• 特征檢測                     • GD&T 庫
• 葉片分析                      • 教學(xué)編程
• 色彩報告                    • 離線模擬

尼康CMM激光掃描測頭(新）LC15Dx 應(yīng)用

測量高精度部件和小型幾何體

LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體（包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料）時具有顯著優(yōu)勢：

處理：生產(chǎn) －研發(fā) －逆向工程
方法：機(jī)械加工－模塑－模壓－澆鑄－鍛造
材料：金屬－塑料－橡膠－陶土－陶瓷－合成材料
表面處理：機(jī)械加工－拋光－電鍍－油漆－混色
結(jié)構(gòu)： 剛硬－柔軟－柔韌－易碎
特征： 表面－幾何特征－剖面－截面

多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)

結(jié)合激光掃描和接觸式探測

某些情況下，采用單傳感器技術(shù)無法測量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購的接觸式測頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測量機(jī)。根據(jù)應(yīng)用需求，可在相同的檢測項目中單獨(dú)或共同使用這兩項技術(shù)。在三坐標(biāo)測量機(jī)平臺上加裝切換和存儲支架選購件后，可以自動切換傳感器。

升級改造

提升當(dāng)前三座標(biāo)測量機(jī)的能力

使用 LC15Dx 來改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測量機(jī)是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測量機(jī)控制器硬件，附之以兼容的*測頭系統(tǒng)，構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標(biāo)多功能測量機(jī)。

LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測量機(jī)控制器系統(tǒng)。

• Aberlink      • Hexagon DEA                       • Renishaw
• Deva            • Hexagon Brown & Sharpe   • Wenze
• Coord3       • Hexagon Sheffield                  • Werth
• Dukin          • Mitutoyo                               • Zeiss

規(guī) 格

探測誤差（MPE_P）¹	2.5μm (0.0001in)
多測針測試（Mpe_AL）²	6μm (0.00024in)
分辨率（點(diǎn)距）	22μm (0.00087in)
數(shù)據(jù)采集（近似值）	70,000 點(diǎn)／秒
每線點(diǎn)數(shù)（近似值）	900
測量溫度范圍	18-22°C (64.4-71.6°F)
工作溫度范圍	10-40°C (50-104°F)
預(yù)熱時間	0（零）秒
重量	370g (13oz)
防護(hù)等級	IP30
電源	110/240VAc, 50/60Hz 5A
增強(qiáng)掃描測頭性能（ESP3）	√
日光濾光片	√
測頭兼容性³	PH10M, PH10MQ, CW43, PHS
激光類型	2 類（670μm）