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納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron TS75 TriboScope

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

定量剛性探針，消除基于彈性懸臂的納米壓痕測(cè)試技術(shù)固有的不確定性和復(fù)雜性。專有電容式傳感器技術(shù)，提供對(duì)納米壓痕過程的**控制，并提供業(yè)界*的力和位移噪聲水平。直觀聯(lián)用接口，可簡(jiǎn)便與流行的商用 AFM 的集成，包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。

詳細(xì)介紹

布魯克的Hysitron TS 75 TriboScope納米壓痕儀為原子力顯微鏡領(lǐng)域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。Hysitron TriboScope 與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯(lián)用，以擴(kuò)展這些顯微鏡的表征能力。通過利用剛性測(cè)試探針，TriboScope 消除了與懸臂基測(cè)量相關(guān)的固有限制、可變性和復(fù)雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復(fù)的力學(xué)和摩擦特性。

剛性探針優(yōu)勢(shì)

大多數(shù) 原子力顯微鏡（AFM）利用適當(dāng)?shù)膽冶圻M(jìn)行力學(xué)或摩擦學(xué)測(cè)試，在將懸臂的彈性和旋轉(zhuǎn)剛度與材料對(duì)施加應(yīng)力的反應(yīng)分離方面提出了重大挑戰(zhàn)。TriboScope 采用剛性測(cè)試探頭組件，允許在測(cè)試期間直接控制和測(cè)量施加的力和位移。