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更新時(shí)間:2023-08-22 18:40:09瀏覽次數(shù):222次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線廠商:BrukerAXS型號(hào):D8Discover到貨日期:2016年3月性能指標(biāo):X光管類型:Cu靶、Co靶、Cr靶,功率2.2KW
廠 商: Bruker AXS
型 號(hào):D8 Discover
到貨日期:2016年3月
性能指標(biāo):
X光管類型:Cu靶、Co靶、Cr靶,功率2.2KW;
角度重現(xiàn)性:±0.0001°,最小可讀步長:0.0001°;
準(zhǔn)確度:測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)樣品在10~160°范圍內(nèi)角度偏差不超過±0.05°;
立式測(cè)角儀,1/4尤拉環(huán);
探測(cè)器有效面積:≥14000mm2,探測(cè)器像素個(gè)數(shù)2048* 2048。
主要功能:
二維面探X射線衍射儀配有高精度五軸全自動(dòng)樣品臺(tái),主要用于織構(gòu)/取向分析、微小區(qū)域分析、應(yīng)力分析和取向樣品的結(jié)晶度測(cè)量等研究領(lǐng)域。采用二維探測(cè)器XRD可直接處理二維德拜環(huán)的測(cè)量數(shù)據(jù),解決了常規(guī)探測(cè)器微區(qū)強(qiáng)度衰減過大的問題,具有精度高、速度快等常規(guī)一維探測(cè)器的優(yōu)點(diǎn);纖維原位樣品臺(tái),可測(cè)定變溫及拉伸過程中纖維/薄膜樣品結(jié)構(gòu)變化;高溫原位測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試薄膜/塊體材料高溫織構(gòu)和物相變化。
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