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蔡司METROTOM 1工業(yè)CT

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更新時(shí)間：2023-01-09 13:33:29瀏覽次數(shù)：234次

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卡爾·蔡司股份公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)。測(cè)量并檢測(cè)接觸式或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個(gè)巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室之中，可以一次性完成內(nèi)部測(cè)量和檢查。

詳細(xì)介紹

　一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)ZEISS METROTOM 1

　　借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)。測(cè)量并檢測(cè)接觸式或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個(gè)巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室之中，可以一次性完成內(nèi)部測(cè)量和檢查。

　　一個(gè)CT系統(tǒng)，兼具多種優(yōu)勢(shì)

　　ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，是升級(jí)您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設(shè)備。CT系統(tǒng)擁有許多優(yōu)勢(shì)：

蔡司工業(yè)CT

　　操作簡(jiǎn)便

　　ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎(chǔ)建造的。安裝過(guò)程簡(jiǎn)單，只需進(jìn)行少量培訓(xùn)就能使用CT。只需輕輕一點(diǎn)，即可開(kāi)始掃描流程!

　　精準(zhǔn)的測(cè)量

　　小而：您可以使用ZEISS Metrotom 1測(cè)量并評(píng)估完整的零件。這樣，您可以信賴您的測(cè)量，進(jìn)行準(zhǔn)確的數(shù)模比對(duì)、尺寸檢查和壁厚分析。

　　占地面積小

　　蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長(zhǎng)) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統(tǒng)適合任何測(cè)量實(shí)驗(yàn)室——可以讓您在公司內(nèi)部進(jìn)行測(cè)量和質(zhì)量保證，而無(wú)需外部測(cè)量服務(wù)。

　　投資回報(bào)快

　　購(gòu)置成本低，且得益于合宜的系統(tǒng)維護(hù)保養(yǎng)費(fèi)用，您的設(shè)備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線管無(wú)需維護(hù)保養(yǎng)。

　　ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠

　　*的CT技術(shù)，用于所有測(cè)量實(shí)驗(yàn)室

　　蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專家，十多年以來(lái)，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)。蔡司計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為每個(gè)人都提供了可靠的X射線技術(shù)和無(wú)損質(zhì)量保證。

　　測(cè)量完整組件、確保零件無(wú)瑕疵

　　使用ZEISS METROTOM 1，您可以在您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室里輕松檢測(cè)出工件的隱藏缺陷。無(wú)論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1，您可以檢查各種零件，如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。

蔡司工業(yè)CT

　　GOM Volume Inspect

　　全面的3D CT數(shù)據(jù)分析

　　ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測(cè)軟件GOM Volume Inspect(體積檢測(cè))。軟件適合初學(xué)者使用，結(jié)合了CT流程的所有階段——從掃描設(shè)置和重建，到數(shù)據(jù)評(píng)估和報(bào)告。軟件可以精準(zhǔn)地評(píng)估幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過(guò)單個(gè)截面圖像看到，并且可以使用多種標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估。只需一個(gè)軟件，您就可以將幾個(gè)組件的體積數(shù)據(jù)加載到項(xiàng)目中，執(zhí)行趨勢(shì)分析，并將采集到的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進(jìn)行比較等等。

　　應(yīng)用領(lǐng)域：

　　無(wú)損檢測(cè)、一次掃描多個(gè)工件。

　　檢查特點(diǎn)：

　　測(cè)量?jī)?nèi)部和外部結(jié)構(gòu)、檢查內(nèi)部缺陷(如縮孔)。

X射線源	160 kV
X射線探測(cè)器	2.5 k
測(cè)量容積	165 x 140 mm
測(cè)量規(guī)格(MPE SD)	< 5 μm
尺寸	1750 mm（寬） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚）
重量	2100 kg
軟件	GOM Volume Inspect體積檢測(cè)（已包含）