適用于常規(guī)、研發(fā)的FT-IR分析——INVENIO® 傅立葉變換紅外光譜儀
INVENIO 適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè)，從常規(guī)質(zhì)量控制到的研發(fā)工作。無論您專注于高效、或者必須符合規(guī)定，INVENIO總能支持您！
創(chuàng)新特性
?全新設(shè)計(jì)的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比
?嵌入式觸摸屏PC用于快且高效的FT-IR分析（可選）
?第二個(gè)樣品室可額外支持一種實(shí)驗(yàn)設(shè)置(TransitTM)
?創(chuàng)新的 MultiTect™ 支持多達(dá)5個(gè)室溫檢測器，內(nèi)部可配備多達(dá)7個(gè)自動(dòng)檢測器
?新型無磨損調(diào)節(jié) INTEGRAL™ 干涉儀含三位分束器自動(dòng)切換組件
?現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨小的光譜特征
?的BRUKER FM檢測技術(shù)可以一次性收集遠(yuǎn)、中紅外光譜
?從 FIR 到 VIS/UV 以及時(shí)間分辨光譜
應(yīng)用領(lǐng)域
INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時(shí)間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級性的情景，從而改善您在工業(yè)或研究應(yīng)用領(lǐng)域的日常分析體驗(yàn)。
質(zhì)量控制
原料驗(yàn)證
產(chǎn)品缺陷故障排除
識別未知污染物
材料表征
揮發(fā)性成分的測定
分解過程表征
光學(xué)材料表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量測定
近紅外光譜范圍的光致發(fā)光測量
研發(fā)
時(shí)間分辨光譜學(xué)
傅立葉變換紅外光譜電化學(xué)
低溫實(shí)驗(yàn)
傅立葉變換紅外顯微及化學(xué)成像
原位反應(yīng)監(jiān)測
幅度調(diào)制（AM）光譜
制藥與生命科學(xué)
評估醫(yī)藥產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量
區(qū)分活性藥物成分的多晶型
蛋白質(zhì)構(gòu)象和濃度
微生物鑒定
聚合物和化學(xué)品
識別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料
識別無機(jī)礦物質(zhì)和色素
多層分析
配方研究
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制
聚合物動(dòng)態(tài)和流變-光學(xué)研究
傅立葉變換拉曼在各領(lǐng)域的應(yīng)用
環(huán)境
污染監(jiān)測（如微塑料）
土壤表征
參數(shù)
1、 光譜范圍：可擴(kuò)展到28,000-15cm-1.
2、 分辨率：2.0cm-1(0.8cm-1)
3、波數(shù)準(zhǔn)確度：0.05cm-1
4、波數(shù)精度：0.0005 cm-1
5、信／噪比：高于55,000：1（1分鐘測試，4cm-1分辨率）
會(huì)員1.png)
