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特測 NSG3040A 發(fā)生器

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更新時間：2024-02-02 12:10:14瀏覽次數(shù)：112次

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：特測 NSG3040A 發(fā)生器；$r$ kVEFT/ kV/1 MHZ

詳細(xì)介紹

特測 NSG3040A 發(fā)生器
本公司4月29日12時24分報道：特測 NSG3040A 發(fā)生器（/c96719/products/d.html）

產(chǎn)品描述

NSG3040A是Teseq公司新推出的一臺用于在抗擾度測試中模擬電磁干擾影響的發(fā) 生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內(nèi)和標(biāo)準(zhǔn)的要求（包括新的 EC/EN標(biāo)準(zhǔn)）。NSG3040A采用了新的Teseq設(shè)計理念，使得特測的多功能發(fā)生器產(chǎn)品系列更加完整。這種創(chuàng)新的設(shè)計基于模塊化結(jié)構(gòu)，因而提供了一個多功能測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以按照基本測試要求配置，也可擴(kuò)展功能以滿足需求多樣的測試實驗室的要求。

NSG3040A系統(tǒng)設(shè)計于滿足用于CE標(biāo)志測試的傳導(dǎo)EMC測試需要，它一般包括組合波、EFT脈沖和PQT。強(qiáng)大的擴(kuò)展能力使得該系統(tǒng)具有更廣泛的應(yīng)用范圍。成熟、的“主—從”概念技術(shù)使得單個脈沖模塊能夠獨立校準(zhǔn)，并將校準(zhǔn)資料和修正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整個系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

由于采用技術(shù)的組件，NSG 3040A在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)，并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。因為采用了具有高質(zhì)、對比度佳的大型7”彩色觸摸板顯示，NSG3040A的操作非常簡便。既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來進(jìn)行輸入。此外，在開發(fā)環(huán)境下，通過內(nèi)置的DTA功能（直接測試程序調(diào)用），幾個“點擊”就能激活標(biāo)準(zhǔn)測試，并能迅速、準(zhǔn)確地得到結(jié)論性結(jié)果。各參數(shù)值均為高度可視的，通過大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數(shù)值。該操作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來?？梢院啽愕剡M(jìn)行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。

選擇“高模式”后，用戶可以在測試中使用滾輪進(jìn)行手動參數(shù)修改—有效、迅速地簡化激活關(guān)鍵閾值的方法。

通過易操作的SD讀卡器可進(jìn)行固件快速下載。可以完整的保存由用戶指*定的測試。在存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測試文件可被輕松復(fù)制進(jìn)更大內(nèi)存的SD卡中。

NSG3040A具有以太網(wǎng)端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復(fù)雜的測試序列。在測試進(jìn)程中，操作人員可以進(jìn)行觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加長期測試的效率。

NSG-3040A_3D_01

模塊化、可擴(kuò)展系統(tǒng)

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