北京久恒隆儀表公司代理*美國(guó)福祿克fluke公司生產(chǎn)的電離室巡測(cè)儀451P,451P型加壓電離室巡測(cè)儀采用加壓電離室,具有了更高的靈敏度(μR分辨率)和更好的能量響應(yīng),用以檢測(cè)X射線和γ源的劑量率和劑量。電離室探測(cè)器對(duì)于漏射線、散射線具有快速的響應(yīng)時(shí)間。
0~500 μR/h | 或 | 0~5 μSv/h |
0~5 mR/h | 或 | 0~50 μSv/h |
0~50 mR/h | 或 | 0~500 μSv/h |
0~500 mR/h | 或 | 0~5 mSv/h |
0~5 R/h | 或 | 0~50 mSv/h |
步進(jìn), 本底至以下讀數(shù) | 達(dá)到zui終讀數(shù)90% 的時(shí)間 |
400 μR/h | 4.8 sec |
4 mR/h | 3.3 sec |
10 mR/h | 4.3 sec |
40 mR/h | 4.5 sec |
100 mR/h | 2.7 sec |
1 R/h | 2 sec |
4 R/h | 2.7 sec |
量程 | 10%~90% |
0~500 μR/h (5 μSv/h) | 5 sec |
0~5 mR/h (50 μSv/h) | 2 sec |
0~50 mR/h (500 μSv/h) | 1.8 sec |
0~500 mR/h (5 mSv/h) | 1.8 sec |
0~5 R/h (50 mSv/h) | 1.8 sec |
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