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X-4P偏光高倍顯微熔點儀

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更新時間：2023-07-21 19:41:23瀏覽次數(shù)：152次

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產(chǎn)品簡介

X-4P偏光高倍顯微熔點儀用途測定物質(zhì)的熔點

詳細介紹

X-4P偏光高倍顯微熔點儀

用途

測定物質(zhì)的熔點。主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機化合物的測定及顯微觀察；尤其適用于礦物藥或淀粉等帶偏光特性物質(zhì)的觀察，在測定物質(zhì)熔點的同時，可以看到物質(zhì)偏光特性的變化過程。在醫(yī)學、化工、合成纖維、生物學、礦物學、學等領域均有廣泛的應用。

特點

◆多用性 既可作為微量樣品（毛細管法）的熔點測定，切片樣品的熔點測定，又可進行生物工程的熱力學研究（載玻片—蓋玻片，熱臺法）；

◆偏光裝置 可觀察物質(zhì)偏光特性，為藥物或淀粉類特別設計

◆高倍觀察 放大倍數(shù)40倍、100倍、200倍；三個倍數(shù)可切換使用。

◆專用攝像通道 X-4P配置三目顯微觀察筒，選購顯微成像系統(tǒng)，可在不影響目視觀察的情況下，同時在電視機或顯示器上顯示圖像。

◆保溫罩設計 減少了環(huán)境對測試結果的影響

技術參數(shù)

	X-4P
物鏡	4X、10X、20X
目鏡	WF10X
光學放大倍數(shù)	40X、100X、200X
顯微鏡頭部	三目頭部（方便與計算機或顯示器連接成像）
溫度顯示	最小示值0.1℃
熔點測量范圍	室溫至320℃
測量重復性	±1℃（小于200℃時）；±2℃（200℃—320℃時）
選購件	物鏡	40X
	目鏡	WF16X、WF20X
	成像系統(tǒng)	模擬成像系統(tǒng)、數(shù)字成像系統(tǒng)
	顯示屏	5寸顯示屏、10寸顯示屏