深圳市嘉士達精密儀器有限公司
詳細(xì)摘要： 非接觸式單點金屬測厚儀EddyCusTFlab2020MT產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020MT允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-28 在線留言
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產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-31 在線留言
詳細(xì)摘要： SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、N...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-30 在線留言
詳細(xì)摘要： SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設(shè)備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材...
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