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SB-C100晶球晶棒C面定向儀
SB-C100此型儀器是給毛坯晶錠定向及晶棒C面修磨的儀器。此設(shè)備保證晶體角度測(cè)量的準(zhǔn)確性，為掏棒工藝控制提供專(zhuān)業(yè)的保障。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/23 18:41:34 對(duì)比

晶球晶棒C面定向儀
SI-E100晶棒參考邊定向儀
SI-E100是對(duì)圓柱形晶體參考邊定向的設(shè)備。此設(shè)備保證晶體角度測(cè)量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專(zhuān)業(yè)的保障。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/9 14:51:17 對(duì)比

晶棒參考邊定向儀
平坦度及表面形態(tài)測(cè)試儀
Tropel®FM200®為精密部件的制造商提供了業(yè)界*的表面形態(tài)測(cè)量。通過(guò)非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)記錄下整個(gè)表面的數(shù)據(jù)。FM200能夠快速和準(zhǔn)確地...
型號(hào)： FM200 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/5 5:21:42 對(duì)比

藍(lán)寶石晶片測(cè)試平坦度及表面形態(tài)測(cè)試厚度ttv翹曲度
SW-A100晶片定向儀
SW-A100此型儀器是給晶片定向的儀器。用于晶棒切割后，進(jìn)行晶片的角度測(cè)量。采用手工上下晶片，自動(dòng)測(cè)量角度方式，可保證晶體角度測(cè)量的準(zhǔn)確性。為切片工藝控制提供...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/12/8 6:44:54 對(duì)比

晶片定向儀
OWT-200平整度測(cè)試儀
OWT-200才用PHYS*技術(shù)，對(duì)透明、半透明、不透明幾乎所有的材料的厚度，TTV，LTV,彎曲度，平整度進(jìn)行無(wú)接觸測(cè)量，其對(duì)透明、半透明材料的高精度精確測(cè)量...
型號(hào)： OWT-200 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/8/18 2:15:55 對(duì)比

藍(lán)寶石碳化硅晶片測(cè)試
SD-300i晶片表面缺陷測(cè)試儀
SD-300i用于測(cè)定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺(tái)半自動(dòng)高精度定向儀，實(shí)現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/5/20 8:39:21 對(duì)比

晶片表面缺陷測(cè)試
SI-A100晶棒定向儀
SI-A100是對(duì)圓柱形晶體進(jìn)行端面與柱邊定向的專(zhuān)業(yè)設(shè)備。此設(shè)備保證晶體角度測(cè)量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專(zhuān)業(yè)的保障。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/3/24 7:30:11 對(duì)比

晶棒定向儀

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