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非接觸式表面輪廓測(cè)量?jī)x

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非接觸式表面輪廓測(cè)量?jī)x2013-09-1616:23:59無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果

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非接觸式表面輪廓測(cè)量?jī)x2013-09-16 16:23:59

無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨

CCI光學(xué)裝置

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無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面，還是測(cè)量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識(shí)保持與時(shí)俱進(jìn)，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測(cè)量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計(jì)融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測(cè)量的檢驗(yàn)工具。 CCI的薄膜厚度測(cè)量功能，進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝。
2048 x 2048像素陣列，視場(chǎng)廣，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
輕松測(cè)量反射率為0.3% - 99%的各種表面
RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件

關(guān)鍵詞：輪廓測(cè)量?jī)x 光學(xué)輪廓儀輪廓儀

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