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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>元器件及裝備失效分析>> 錫須現(xiàn)象檢測 材料裝備失效分析
| 服務區(qū)域 | 全國 | 服務資質 | CNAS認可 |
|---|---|---|---|
| 服務周期 | 3到7個工作日 可提供特急服務 | 加急服務 | 可提供 |
| 發(fā)票 | 可提供 | 報告類型 | 中英文電子/紙質報告 |
服務內容
錫須現(xiàn)象檢測 材料裝備失效分析：廣電計量錫須檢查檢測項目包括：生長速率、延展性、低熔點、可靠性、材料檢測、材料檢測、缺陷試驗、外觀檢測、環(huán)境試驗、數(shù)量估計、安全性檢測、潛在危險性、性狀、應力影響率、措施有效性、錫須密度等。
服務范圍
電子元件、汽車電子、醫(yī)療、通訊、手機、電腦、電器等PCBA部件。
參照標準
IEC 60068-2-82-2009環(huán)境試驗第2-82部分：電子和電氣元件晶須試驗方法等。更多及最新標準請聯(lián)系客服。
測試周期
3到7個工作日 可提供特急服務
檢測資質
CNAS認可
服務背景
錫須現(xiàn)象檢測 材料裝備失效分析：錫須是一種在純錫或錫合金鍍層表面自發(fā)生長的細長錫晶體。在電子電路中，錫須會引起短路，降低電子器件的可靠性，甚至導致電子器件的失效或失效。由于錫晶須通常在電鍍幾年甚至幾十年后才開始生長，這將對產品的可靠性造成很大的潛在危害。
從環(huán)境保護和人類健康的角度出發(fā)，中國、日本、歐盟、美國等國家或地區(qū)相繼出臺相關法律法規(guī)或法令，明確限制或禁止在電子電氣設備中使用鉛，使電子產品無鉛化。電子工業(yè)無鉛化的趨勢意味著電子工業(yè)中應用廣泛的Sn-Pb焊料將成為歷史。同時，廣泛使用的錫鉛焊料也將被新的金屬或合金所取代。純Sn、Sn-Bi、Sn-Ag-Cu作為一種可能的替代物，存在著錫晶須自發(fā)生長的潛在問題。
我們的優(yōu)勢
1、服務覆蓋全國：廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測機構，技術服務保障網(wǎng)絡覆蓋全國。
2、資源配置完善：廣電計量聚焦集成電路失效分析技術，擁有業(yè)界專業(yè)的專家團隊及先進的失效分析系統(tǒng)設備。提供定制化服務：憑借齊全的檢測能力和多行業(yè)豐富的服務經驗，廣電計量可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務，如配合客戶開展NPI階段驗證，在量產階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。
環(huán)保在線