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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>環(huán)境可靠性>>測試服務(wù)>> 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗

粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗
  • 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
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  • 品牌 廣電計量
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 工程商
  • 所在地 廣州市
屬性

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更新時間:2024-11-07 07:31:21瀏覽次數(shù):354評價

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更多產(chǎn)品
服務(wù)區(qū)域 全國 服務(wù)資質(zhì) CNAS、CMA
服務(wù)周期 根據(jù)實際測試需求制定測試時長方案。 證書類型 中英文電子/紙質(zhì)報告
PIND試驗是一種非破壞性試驗,試驗?zāi)康脑谟跈z測元器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子。PIND采用振動裝置、驅(qū)動裝置、沖擊裝置或工具、閾值檢測器、粘附劑、傳感器等設(shè)備,給元器件加上一個近似實際應(yīng)用條件的正弦振動和脈沖沖擊環(huán)境。當(dāng)粒子質(zhì)量足夠大時,通過一系列振動和沖擊循環(huán),使粒子與器件封裝殼體碰撞時激勵傳感器而被探測出來。廣電計量可開展粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗,助力企業(yè)產(chǎn)品發(fā)展。

服務(wù)內(nèi)容


粒子碰撞噪聲試驗的原理是對有內(nèi)腔的密封件(如微電路)施加適當(dāng)?shù)臋C械沖擊應(yīng)力,使黏附于微電路腔體等密封件內(nèi)的多余物成為可動多余物。同時施加振動應(yīng)力,使可動多余物產(chǎn)生振動,振動的多余物與腔體壁撞擊產(chǎn)生噪聲。通過換能器檢測噪聲,判斷腔內(nèi)有無多余物。廣電計量粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗主要是對相關(guān)器件進行振動和沖擊循環(huán)試驗。


粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗需要的設(shè)備(或等效的)組成如下:


        ● A、閾值檢測器,檢測超過預(yù)置閾值的粒子噪聲電壓。設(shè)定的檢測器閾值峰值為 20±1mV (相對系統(tǒng)地的絕對值)。


        ● B、振動機及驅(qū)動器,能對受試器件提供大體是正弦的振動:


            條件 A一在 4~~250Hi下,峰值加速度為 196m/s2(20g)。


            條件 B一在至少 60HZ下,峰值加速度為 98m/s2(10g)。


       ● C、PIND傳感器,使在150~160kHz頻率內(nèi)某一點峰值靈敏度校準(zhǔn)到每10V/Pa對應(yīng)一775±30dB·V/Pa(-77.5±3dB·V/μbar)。


服務(wù)范圍


集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。


檢測標(biāo)準(zhǔn)


GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2020.1


更多檢測標(biāo)準(zhǔn)請聯(lián)系在線客服。


檢測項目


試驗項目可分為條件A和條件B,其中條件A振動頻率由器件的內(nèi)腔高度而定,條件B則為固定振動頻率。


條件A(振動頻率根據(jù)內(nèi)腔高度而定)

試驗順序

試驗條件

試驗前沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s



條件B(固定頻率)

試驗順序

試驗條件

試驗前沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s

與上條振動同時進行沖擊

沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次

振動

振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s



相關(guān)資質(zhì)


CMA,CNAS


測試周期


常規(guī)檢測周期:5-7個工作日


服務(wù)背景


密封元器件在生產(chǎn)過程中有一個容易被生產(chǎn)方忽略并導(dǎo)致后續(xù)使用過程中引發(fā)元器件失效的風(fēng)險,就是密封元器件內(nèi)部出現(xiàn)的多余微小松散顆粒。


在生產(chǎn)帶空腔的密封元器件過程中,有概率會把一些多余的微小顆粒,如焊錫渣、松香、金屬屑、密封劑、灰塵等封裝在密封空腔內(nèi)。在外界強振動或沖擊環(huán)境下,這些空腔中的多余微小顆粒受到外力激勵會被激活,與腔壁及腔內(nèi)其他結(jié)構(gòu)進行隨機碰撞,可能會導(dǎo)致元器件短路、不動作、誤動作等失效情況發(fā)生,從而造成質(zhì)量事故。


這種多余微小松散顆粒在密封后的元器件因無法直接觀察獲知,被成為密封元器件的隱藏殺手。對有內(nèi)腔的密封元器件進行粒子碰撞噪聲檢測(PIND,Particle Impact Noise Detection)試驗可有效發(fā)現(xiàn)密封元器件內(nèi)多余微小松散顆粒,避免質(zhì)量事故發(fā)生。


我們的優(yōu)勢


廣電計量具備粒子碰撞噪聲檢測儀,可進行繼電器、電源模塊、晶振、半導(dǎo)體分立器件、集成電路等諸多類型空腔元器件的粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗,可有效地提高電子元器件的使用可靠性。


廣電計量元器件篩選及失效分析實驗室在廣州、成都、無錫、上海等城市都擁有經(jīng)驗豐富的檢測團隊,具備集成電路、分立器件、晶振等元器件的粒子碰撞噪聲檢測能力,為密封元器件的質(zhì)量使用可靠性保駕護航。


粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗


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