李女士
目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>環(huán)境可靠性>>測試服務(wù)>> 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗
服務(wù)區(qū)域 | 全國 | 服務(wù)資質(zhì) | CNAS、CMA |
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服務(wù)周期 | 根據(jù)實際測試需求制定測試時長方案。 | 證書類型 | 中英文電子/紙質(zhì)報告 |
粒子碰撞噪聲試驗的原理是對有內(nèi)腔的密封件(如微電路)施加適當(dāng)?shù)臋C械沖擊應(yīng)力,使黏附于微電路腔體等密封件內(nèi)的多余物成為可動多余物。同時施加振動應(yīng)力,使可動多余物產(chǎn)生振動,振動的多余物與腔體壁撞擊產(chǎn)生噪聲。通過換能器檢測噪聲,判斷腔內(nèi)有無多余物。廣電計量粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗主要是對相關(guān)器件進行振動和沖擊循環(huán)試驗。
粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗需要的設(shè)備(或等效的)組成如下:
● A、閾值檢測器,檢測超過預(yù)置閾值的粒子噪聲電壓。設(shè)定的檢測器閾值峰值為 20±1mV (相對系統(tǒng)地的絕對值)。
● B、振動機及驅(qū)動器,能對受試器件提供大體是正弦的振動:
條件 A一在 4~~250Hi下,峰值加速度為 196m/s2(20g)。
條件 B一在至少 60HZ下,峰值加速度為 98m/s2(10g)。
● C、PIND傳感器,使在150~160kHz頻率內(nèi)某一點峰值靈敏度校準(zhǔn)到每10V/Pa對應(yīng)一775±30dB·V/Pa(-77.5±3dB·V/μbar)。
集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2020.1
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試驗項目可分為條件A和條件B,其中條件A振動頻率由器件的內(nèi)腔高度而定,條件B則為固定振動頻率。
條件A(振動頻率根據(jù)內(nèi)腔高度而定)
試驗順序 | 試驗條件 |
試驗前沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:20g,頻率:4~250Hz,時間:3s |
條件B(固定頻率)
試驗順序 | 試驗條件 |
試驗前沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s |
與上條振動同時進行沖擊 | 沖擊峰值:1000g,次數(shù):3次 |
振動 | 振動峰值:10g,頻率:≥60Hz,時間:3s |
CMA,CNAS
常規(guī)檢測周期:5-7個工作日
密封元器件在生產(chǎn)過程中有一個容易被生產(chǎn)方忽略并導(dǎo)致后續(xù)使用過程中引發(fā)元器件失效的風(fēng)險,就是密封元器件內(nèi)部出現(xiàn)的多余微小松散顆粒。
在生產(chǎn)帶空腔的密封元器件過程中,有概率會把一些多余的微小顆粒,如焊錫渣、松香、金屬屑、密封劑、灰塵等封裝在密封空腔內(nèi)。在外界強振動或沖擊環(huán)境下,這些空腔中的多余微小顆粒受到外力激勵會被激活,與腔壁及腔內(nèi)其他結(jié)構(gòu)進行隨機碰撞,可能會導(dǎo)致元器件短路、不動作、誤動作等失效情況發(fā)生,從而造成質(zhì)量事故。
這種多余微小松散顆粒在密封后的元器件因無法直接觀察獲知,被成為密封元器件的隱藏殺手。對有內(nèi)腔的密封元器件進行粒子碰撞噪聲檢測(PIND,Particle Impact Noise Detection)試驗可有效發(fā)現(xiàn)密封元器件內(nèi)多余微小松散顆粒,避免質(zhì)量事故發(fā)生。
廣電計量具備粒子碰撞噪聲檢測儀,可進行繼電器、電源模塊、晶振、半導(dǎo)體分立器件、集成電路等諸多類型空腔元器件的粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗,可有效地提高電子元器件的使用可靠性。
廣電計量元器件篩選及失效分析實驗室在廣州、成都、無錫、上海等城市都擁有經(jīng)驗豐富的檢測團隊,具備集成電路、分立器件、晶振等元器件的粒子碰撞噪聲檢測能力,為密封元器件的質(zhì)量使用可靠性保駕護航。
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