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ZEISS METROTOM X射線工業(yè)CT掃描儀（無(wú)損檢測(cè)）

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更新時(shí)間：2023-04-02 16:23:31瀏覽次數(shù)：243次

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基于ZEISSMETROTOM的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)

詳細(xì)介紹

基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精度的高要求。

測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件

ZEISS METROTOM是一種用于測(cè)量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類(lèi)隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)

利用ZEISS METROTOM計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。

直觀簡(jiǎn)易的軟件操作

僅需通過(guò)短時(shí)間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用ZEISS CALYPSO可評(píng)估CT數(shù)據(jù)，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測(cè)量報(bào)告中。